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晶片验证测试及失效分析pdf

2011-11-29 11:52:32 60297 失效分析集成电路

0 在现代集成电路制造工艺中，芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小，各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm 器件的一套掩模成本可能超过130 万美元。因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。晶片验证测试及失效分析游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 3
2011-11-29 11:52:32　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 晶片验证测试及失效分析 1959 • CDM的测试与失效分析 8728 • 请问芯片失效分析中的DPA验证分析是什么呢？ 2823 • 失效分析和热点测试 7576 • 失效分析OBIRCH热点测试 13228 • 什么是失效分析？失效分析原理是什么？ 10687 • MOS管热阻测试失效分析 5130 • ic验证检测封装失效分析芯片测试座,烧录座,老化座 6435 • 芯片失效分析探针台测试 3778 • SystemVerilog与功能验证.pdf 2970 266 个讨论

0 需要

2012-2-6 15:28:28 评论举报 1^# qqcaiyin

0 很好，3q

2012-2-8 12:59:08 评论举报 2^# appreciation

0 好东西！

2012-2-21 21:24:54 评论举报 3^# 黑子

0 好，顶一个

2012-2-22 11:12:14 评论举报 4^# kin-lean

0 学习学习。。。。。

2012-4-14 15:11:10 评论举报 5^# 飞翔soar

0 很好！

2012-5-12 19:18:34 评论举报 6^# 547744481

0 很好

2012-7-2 10:54:05 评论举报 7^# 301876

0 好东西

2012-7-2 10:56:11 评论举报 8^# 301876

0 学习了

2012-7-3 14:52:28 评论举报 9^# jf_1689824194.2923

0 提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

2012-7-18 08:16:03 评论举报 10^# 头像被屏蔽

0 谢谢分享失效分析的方法，好好学习下

2012-7-18 09:39:54 评论举报 11^# 竹水琉

0 3q.......

2012-7-22 22:08:10 评论举报 12^# constructure

0 好好学学

2012-10-3 22:02:32 评论举报 13^# 庞新洁

0 顶一下

2012-10-3 22:12:12 评论举报 14^# 庞新洁

0 学习

2012-10-4 09:13:09 评论举报 15^# 庞新洁

0 学习学习

2012-10-19 15:40:11 评论举报 16^# 288081

0 好东东

2012-12-20 21:12:58 评论举报 17^# hexion

0

2012-12-21 08:29:29 评论举报 18^# Мêゝ我在等一

0

2012-12-26 17:01:09 评论举报 19^# D_Jay

只有小组成员才能发言，加入小组>>

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芯片测试与失效分析

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