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晶片验证测试及失效分析pdf

2011-11-29 11:52:32 71963 失效分析集成电路

0 在现代集成电路制造工艺中，芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小，各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm 器件的一套掩模成本可能超过130 万美元。因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。晶片验证测试及失效分析游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 3
2011-11-29 11:52:32　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 晶片验证测试及失效分析 2247 • 请问芯片失效分析中的DPA验证分析是什么呢？ 3027 • 失效分析和热点测试 8522 • CDM的测试与失效分析 11298 • 失效分析OBIRCH热点测试 14113 • 什么是失效分析？失效分析原理是什么？ 11415 • MOS管热阻测试失效分析 5817 • ic验证检测封装失效分析芯片测试座,烧录座,老化座 6706 • 芯片失效分析探针台测试 4122 • SystemVerilog与功能验证.pdf 8176 267 个讨论

0 过来看看

2017-8-28 16:30:02 评论举报 141^# 153344914

0 学习中！

2017-8-30 10:17:54 评论举报 142^# 楚寒

0 看看

2017-8-31 19:52:54 评论举报 143^# zlzk130

0 {:1:}{:1:}

2017-9-1 17:01:00 评论举报 144^# Monikadeutsch

0 顶顶顶！看看看看看看看

2017-9-2 01:10:01 评论举报 145^# 雪山之巅

0 看看，谢谢楼主

2017-9-3 00:00:58 评论举报 146^# binfeng85

0

2017-9-3 16:17:52 评论举报 147^# 杨未来

0 不收费的资料才是好楼主

2017-9-8 15:05:35 评论举报 148^# hxc9908

0 感谢楼主分享

2017-9-21 23:22:36 评论举报 149^# meopel

0 提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

2017-9-25 20:05:20 评论举报 150^# 头像被屏蔽

0 看一看

2017-9-27 18:14:47 评论举报 151^# 王德森

0 很好

2017-9-28 17:08:19 评论举报 152^# h1654155741.8245

0

2017-10-24 10:26:37 评论举报 153^# 霸丶霸

0 感谢分享

2017-10-26 17:20:55 评论举报 154^# 董昭斌

0 资料非常有价值。谢谢分享

2017-11-5 10:43:27 评论举报 155^# 时之刃wsk

0 感谢楼主提供~~~~~~~~~~~~~

2017-11-29 22:26:26 评论举报 156^# 夏

0 晶片验证测试学习

2017-12-2 19:59:18 评论举报 157^# dmh2017

0 份额五部分的白垩粉我吧

2017-12-15 21:57:36 评论举报 158^# jxzh1973

0 kankan,谢谢啦，啊啊啊

2017-12-15 21:58:07 评论举报 159^# jxzh1973

0 学习

2018-1-6 14:29:16 评论举报 160^# weiwei667485

只有小组成员才能发言，加入小组>>

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芯片测试与失效分析

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