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晶片验证测试及失效分析pdf

2011-11-29 11:52:32 61023 失效分析集成电路

0 在现代集成电路制造工艺中，芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小，各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm 器件的一套掩模成本可能超过130 万美元。因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。晶片验证测试及失效分析游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 3
2011-11-29 11:52:32　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 晶片验证测试及失效分析 1983 • CDM的测试与失效分析 9009 • 请问芯片失效分析中的DPA验证分析是什么呢？ 2833 • 失效分析和热点测试 7645 • 失效分析OBIRCH热点测试 13337 • 什么是失效分析？失效分析原理是什么？ 10767 • MOS管热阻测试失效分析 5208 • ic验证检测封装失效分析芯片测试座,烧录座,老化座 6462 • 芯片失效分析探针台测试 3823 • SystemVerilog与功能验证.pdf 3804 267 个讨论

0 学习学习

2016-11-17 15:01:52 评论举报 101^# 义忠

0 学习了.............

2016-11-18 16:25:35 评论举报 102^# jx_xixi

0 为了下载

2016-11-21 10:01:46 评论举报 103^# zhouapple

0 好好来学习一下晶片测试

2016-11-22 10:22:58 评论举报 104^# 204082

0 需要学习一下，thanks

2016-11-28 11:05:53 评论举报 105^# collette

0 真的很不错啊，我特别喜欢这个帖子。

2016-11-29 09:57:45 评论举报 106^# andrewleelive

0 感谢楼主！非常好的学习资料，照了好久，终于找到了，哈哈，太感谢了！

2016-12-19 20:26:52 评论举报 107^# 秦风

0 不断学习，取人之长，补己之短！

2016-12-20 16:58:16 评论举报 108^# ac2467

0 很好

2017-1-18 21:09:46 评论举报 109^# 梁鹏飞

0 提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

2017-2-20 15:50:24 评论举报 110^# 头像被屏蔽

0 需要

2017-2-20 21:02:30 评论举报 111^# kriswang

0 的点点滴滴

2017-2-20 21:02:54 评论举报 112^# e8828

0 学习，不错！

2017-3-10 15:35:27 评论举报 113^# 刘晓军

0 谢谢分享

2017-3-13 20:40:01 评论举报 114^# 许晨烨

0 学习一下

2017-3-19 07:52:36 评论举报 115^# 陈花儿

0

2017-3-24 14:58:23 评论举报 116^# 星雨星夜

0 正在学习中，希望有用

2017-3-25 09:43:24 评论举报 117^# felixding

0 学习学习很不错的资料

2017-4-6 11:50:04 评论举报 118^# 梁雪儿

0 迫切需要

2017-4-10 16:24:28 评论举报 119^# longcm

0 good

2017-4-17 12:51:18 评论举报 120^# 黄华

只有小组成员才能发言，加入小组>>

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芯片测试与失效分析

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