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芯片失效分析探针台测试

2020-10-16 16:05:57  290 芯片
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芯片失效分析探针测试简介:
可以便捷的测试芯片或其他产品的微区电信号引出功能,支持微米级的测试点信号引出或施加,配备硬探针和牛毛针,宜特检测实验室可根据样品实际情况自由搭配使用,外接设备可自由搭配,如示波器,电源等,同时探针台提供样品细节可视化功能,协助芯片设计人员对失效芯片进行分析在显微镜的辅助下,使用探针接触芯片管脚,给芯片加电,观察芯片加电后的功耗表现。

芯片失效分析探针台测试probe应用范围:
探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
芯片失效分析探针台测试应用范围:8寸以内Wafer,IC测试,IC设计等
芯片失效分析探针台测试probe测试内容:
1.微小连接点信号引出  
2.失效分析失效确认
3.FIB电路修改后电学特性确认
4.晶圆可靠性验证


来源:知乎




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