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芯片失效分析探针台测试

2020-10-16 16:05:57 3827 芯片

0 `芯片失效分析探针台测试简介：可以便捷的测试芯片或其他产品的微区电信号引出功能，支持微米级的测试点信号引出或施加，配备硬探针和牛毛针，宜特检测实验室可根据样品实际情况自由搭配使用，外接设备可自由搭配，如示波器，电源等，同时探针台提供样品细节可视化功能，协助芯片设计人员对失效芯片进行分析在显微镜的辅助下，使用探针接触芯片管脚，给芯片加电，观察芯片加电后的功耗表现。芯片失效分析探针台测试probe应用范围：探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。芯片失效分析探针台测试应用范围：8寸以内Wafer，IC测试，IC设计等芯片失效分析探针台测试probe测试内容： 1.微小连接点信号引出 2.失效分析失效确认 3.FIB电路修改后电学特性确认 4.晶圆可靠性验证来源：知乎 ` 0
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