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晶片验证测试及失效分析pdf

2011-11-29 11:52:32 61025 失效分析集成电路

0 在现代集成电路制造工艺中，芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小，各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm 器件的一套掩模成本可能超过130 万美元。因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。晶片验证测试及失效分析游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 3
2011-11-29 11:52:32　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 晶片验证测试及失效分析 1983 • CDM的测试与失效分析 9009 • 请问芯片失效分析中的DPA验证分析是什么呢？ 2833 • 失效分析和热点测试 7645 • 失效分析OBIRCH热点测试 13337 • 什么是失效分析？失效分析原理是什么？ 10767 • MOS管热阻测试失效分析 5208 • ic验证检测封装失效分析芯片测试座,烧录座,老化座 6462 • 芯片失效分析探针台测试 3823 • SystemVerilog与功能验证.pdf 3804 267 个讨论

0 本回复不代表任何意见，仅为看贴

2015-12-25 11:20:12 评论举报 61^# 朱琦

0 非常值得学习，

2015-12-25 16:03:22 评论举报 62^# BUCKTIAN

0 先来学习一下，刚进入这个行业，还是菜鸟

2016-1-2 21:56:27 评论举报 63^# 肖于亮

0 好东西值得分享

2016-2-26 09:39:20 评论举报 64^# 魏关胜

0 顶楼主，学习学习

2016-3-2 17:35:40 评论举报 65^# deng0114

0 很需要这个资料，非常感谢

2016-3-15 14:26:36 评论举报 66^# liugj1062

0 谢谢分享，下载看看先，

2016-3-15 21:21:16 评论举报 67^# zhubch_04

0 我只想学习一下楼主的精华，谢谢楼主啊

2016-3-21 14:18:21 评论举报 68^# 王周

0 非常值得学习。。。

2016-3-26 21:43:05 评论举报 69^# 凌生

0 此器件缺陷造成的损失代价极为高昂

2016-3-30 10:45:32 评论举报 70^# 汤义辉

0 看看学习学习。

2016-4-24 23:19:55 评论举报 71^# superxiao

0 顶一下，学习学习

2016-5-7 10:53:28 评论举报 72^# 令狐冲

0 感谢分享，换积分啊啊啊啊

2016-5-9 11:40:05 评论举报 73^# zhangyonggang

0 3qqqqrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrrr

2016-5-15 09:32:44 评论举报 74^# 杨印

0 最近做芯片，同种设计流两次片，出来的片子性能偏差太多，希望能找到答案的影子。

2016-5-22 21:21:11 评论举报 75^# ns770688799

0 刚刚开始学习，希望有好资料可以参考，多谢

2016-5-23 08:30:45 评论举报 76^# 高喆

0 谢谢分享，

2016-5-24 11:07:42 评论举报 77^# 缨子26

0 楼主好人{:1:}

2016-7-7 22:17:15 评论举报 78^# Xudream123

0 器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下，通过验证测试，分析失效原因，减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。

2016-7-8 21:08:29 评论举报 79^# 董睿

0 谢谢楼主的分享啦~

2016-7-11 06:16:32 评论举报 80^# elecdoctor

只有小组成员才能发言，加入小组>>

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芯片测试与失效分析

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