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目标设备是 TC333LP。 Mbist 组件遵循 AURIXTC3XX_ts_part1_V2.5.1 中的所有原则和说明。 0 号、2 号和 3 号 GANG 的初始化过程和无损检测运行结果良好,没有出现任何问题。 当我们要初始化 CPU0 的 DSPR SRAMS(DMEM 和 DMEM1)时,情况就发生了变化。
使用 MEMTEST 寄存器启用测试模式会导致总线错误。 DMEM 和 DMEM1 的情况相同,它们使用不同的 MEMTEST 寄存器。 初始化是根据 TC33xEXT_appx_um_v2.0 文件中 "处理大型 DSPR SRAM "一章中的提示进行的,它们的测试模式不是并行运行。 这似乎也不像是访问模式的问题--寄存器会根据写入的值改变其值。 启用测试模式时,自动初始化也不会运行。 我发现 Scratchpad 内存中存在数据完整性错误。 如何解决这个问题? 原因何在? |
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1个回答
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TC333LP使用MEMTEST寄存器启用测试模式会导致总线错误的原因可能有以下几点:
1. **寄存器配置错误**:可能在配置MEMTEST寄存器时出现了错误,导致测试模式无法正确启动。请确保按照AURIXTC3XX_ts_part1_V2.5.1和TC33xEXT_appx_um_v2.0文件中的说明正确配置寄存器。 2. **初始化顺序问题**:在初始化过程中,可能存在顺序问题。请检查初始化顺序是否正确,并确保所有必要的寄存器都已正确设置。 3. **时序问题**:可能存在时序问题,导致测试模式无法在预期的时间内启动。请检查时钟设置和时序要求,确保它们符合TC333LP的要求。 4. **硬件问题**:如果硬件存在问题,可能会导致总线错误。请检查硬件连接和信号完整性,确保它们没有问题。 5. **软件问题**:软件中可能存在错误,导致测试模式无法正确启动。请检查软件代码,确保没有逻辑错误或错误的寄存器访问。 6. **内存访问冲突**:在初始化DSPR SRAM时,可能存在内存访问冲突。请检查内存访问模式和地址映射,确保它们不会导致冲突。 7. **电源问题**:不稳定的电源可能会影响测试模式的启动。请检查电源供应,确保它们稳定且符合TC333LP的要求。 为了解决这个问题,建议按照以下步骤进行: 1. 仔细检查MEMTEST寄存器的配置,确保它们正确设置。 2. 检查初始化顺序,确保所有必要的寄存器都已正确设置。 3. 检查时钟设置和时序要求,确保它们符合TC333LP的要求。 4. 检查硬件连接和信号完整性,确保它们没有问题。 5. 检查软件代码,确保没有逻辑错误或错误的寄存器访问。 6. 检查内存访问模式和地址映射,确保它们不会导致冲突。 7. 检查电源供应,确保它们稳定且符合TC333LP的要求。 通过以上步骤,希望能帮助您找到导致总线错误的原因,并解决问题。 |
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