特定时钟区域的触发器缺陷的解决办法？

嗨，我正在使用Kintex7 410t（ffg900）并且需要一些关于测试结果的帮助似乎是硬件缺陷。
我用如下的FF测试模块配置FPGA（简要代码），发现CLOCK_REGION_X0Y3~X1Y3没有运行。
FF测试模块的输出，分配给每个时钟区域的（如此多）计数器的逻辑“与”位连接到测试引脚，因此我可以识别哪个区域正常运行。
（用示波器）
该银行15的IO引脚运行良好。
问题是：
Q1：特定时钟区域的FF是否可能在没有任何缺陷的情况下运行不正常？
Q2：如果FF被破坏（故障，缺陷，等等），为什么会出现？
（ESD，电路设计错误..？）
我有3块FPGA板，时钟区X0Y3-X1Y3的FF运行不正常。
（30个好板）
FF测试的简要代码
create_pblock pblock_1add_cells_to_pblock [get_pblocks pblock_1] [get_cells -quiet [列表TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z00 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z04 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z08 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z12 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z16 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z20 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z24 TEST_SLICE_A / TEST_SLICE_Z28]] resize_pblock [get_pblocks pblock_1] -add {CLOCKREGION_X0Y0：CLOCKREGION_X1Y0}
...
TEST_SLICE_Z＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-0）,. TAP（TAP）,. CNT_NN（1））TEST_SLICE_Z00（nReset，clk，out_led00）; TEST_SLICE_Z＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-1）,. TAP（TAP）,.
CNT_NN（1））TEST_SLICE_Z01（nReset，clk，out_led01）; TEST_SLICE_Z＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-2）,. TAP（TAP）,. CNT_NN（1））TEST_SLICE_Z02（nReset，clk，out_led02）;
...
assign out_led [0] = {〜（out_led00＆amp; out_led04＆amp; out_led08＆amp; out_led12＆amp; out_led16＆amp; out_led20＆amp; out_led24＆amp; out_led28）}; assign out_led [1] = {〜（out_led01＆amp; out_led05＆amp; out_led09
＆amp; out_led13＆amp; out_led17＆amp; out_led21＆amp; out_led25＆amp; out_led29）};分配out_led [2] = {〜（out_led02＆amp; out_led06＆amp; out_led10＆amp; out_led14＆amp; out_led18＆amp; out_led22＆amp; out_led26＆amp; out_led30）
分配out_led [3] = {〜（out_led03＆amp; out_led07＆amp; out_led11＆amp; out_led15＆amp; out_led19＆amp; out_led23＆amp; out_led27＆amp; out_led31）};
模块TEST_SLICE_Z（nReset，clk，out_led）;参数CNT_NN = 16;参数DATA_WIDTH = 256;
参数TAP = 25;
输入nReset;输入clk;输出out_led;导线[CNT_NN-1：0] out_led00，out_led01，out_led02，out_led03，out_led04;导线[CNT_NN-1：0] out_led05，out_led06，out_led07，out_led08，out_led09;
...
genvar ch; generatefor（ch = 0; chbegin：gen_led_test0TEST_SLICE＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-00）,. TAP（TAP））TEST_SLICE00（nReset，clk，out_led00 [ch]）; TEST_SLICE＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-01）
，.TAP（TAP））TEST_SLICE01（nReset，clk，out_led01 [ch]）; TEST_SLICE＃（。DATA_WIDTH（DATA_WIDTH-02）,. TAP（TAP））TEST_SLICE02（nReset，clk，out_led02 [ch]）;
...
模块TEST_SLICE（nReset，clk，out_led）;
参数DATA_WIDTH = 26;
参数TAP = 25;
输入nReset;输入clk;输出out_led;
reg [DATA_WIDTH-1：0] TEST_CNT00，TEST_CNT01，TEST_CNT02，TEST_CNT03，TEST_CNT04; reg [DATA_WIDTH-1：0] TEST_CNT05，TEST_CNT06，TEST_CNT07，TEST_CNT08，TEST_CNT09;
...
始终@（posedge clk或negedge nReset）beginif（~nReset）beginTEST_CNT00 TEST_CNT01 TEST_CNT02 ...
endelse beginTEST_CNT00 TEST_CNT01 TEST_CNT02 ...努力
总是@（posedge clk或negedge nReset）beginif（~nReset）begintest_led0 test_led1 test_led2 test_led3 endelse begintest_led0 ...
endend
reg out_led; always @（posedge clk或negedge nReset）beginif（~nReset）beginout_led endelse beginout_led endend