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我带来了STEVAL-MKI160V1 MEMS传感器板。批量ID Z5T42380E024。在使用传感器时,我遇到了一个问题,比如我启用了中断生成来中断引脚INT1以进行6D方向检测。因此,当我改变方向时,产生中断并且中断引脚INT1从低电平变为高电平状态。但是它不会回到低状态来检测下一个中断检测。即使我再次将方向更改为第一个或上一个状态,INT1引脚仍保持高电平状态。我的疑问是,寄存器中是否有任何寄存器或位被编程以使中断引脚INT1变为低电平并自动准备好进行下一次中断检测? LSM6DS3传感器是否提供此功能?
#中断lsm6d3s 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 I brought STEVAL-MKI160V1 MEMS sensor board. Bulk ID Z5T42380E024. While working with the sensor I got an issue like I enabled interrupt generation to interrupt pin INT1 for 6D orientation detection. So when ever I change the orientation, interrupt is generated and interrupt pin INT1 is going from low to high state. But it is not going back to low state for detecting the next interrupt detection. INT1 pin is maintaining high state even if I again change the orientation to first or previous state. My doubt is, is there any register or bit in a register to be programmed to make the interrupt pin INT1 becomes low and be ready automatically to serve next interrupt detection? Is this feature available in LSM6DS3 sensor? #interrupt-lsm6d3s |
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1个回答
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如果将器件配置为锁存模式(TAP_CFG),则需要读取相关的中断源寄存器(D6D_SRC)。
锁存模式为DISABLED时,中断信号仅对1 / ODR_XL 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 If you have your device configured for latched mode (TAP_CFG), then you will need to read the related interrupt source register (D6D_SRC). With latched mode DISABLED, the interrupt signal is active only for 1/ODR_XL |
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