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IC测试原理分析
本系列一共四章,第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语;第二章节将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上;接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试,第四章会介绍射频/无线芯片的测试。
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liaojiaole
做人要厚道,看帖要回帖,先顶一下!!
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好东西啊
谢谢啦
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