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IC测试原理分析

1652711011.026500

2009-11-21 09:45:14 17360

0 IC测试原理分析本系列一共四章，第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语；第二章节将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。 QavFOdo3.pdf (477.05 KB, 下载次数: 340 ) [/hide] 2 6ysudZ5u.jpg (13.04 KB, 下载次数: 70)
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林宝 · 2019-12-23 09:32:04 82^# 感谢楼主分享~~~

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