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【0:1】是测试管脚,
是将一些Normal Mode下的输入管脚转变成输出,这样在MCU端可以从这些管脚检测是否正常。 对是否烧坏,在Normal Mode下就可以从输出判断。 请将原理图贴上来,可以帮助分析。 异常发热,可以从几个方面考虑: 1、电源供电 是否超出 2、输入Input管脚是否有超出范围电压输入,参考管脚电压 3、MCU侧数字接口逻辑电平是否匹配 |
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在使用ADS1274时,如果出现异常发热,可能是由于以下几个原因:
1. 电源电压过高或不稳定:请检查电源电压是否在规定的范围内,以及电源是否稳定。 2. 负载过大:请检查连接到ADS1274的负载是否过大,导致电流过大,从而发热。 3. 散热不良:请检查ADS1274的散热情况,确保有足够的散热措施。 4. 硬件故障:可能是ADS1274本身存在硬件故障,导致发热。 关于使用TEST[0 1]检测的问题,TEST[0 1]是ADS1274的一个测试引脚,可以用来测试芯片的功能。但是,它不能直接检测芯片是否烧坏。要检测芯片是否烧坏,可以尝试以下方法: 1. 检查芯片的外观:检查芯片是否有烧焦、破损等现象。 2. 检查电源和地线:确保电源和地线连接正确,没有短路现象。 3. 使用示波器或万用表检查芯片的输出:检查芯片的输出是否正常,是否有异常信号。 4. 更换芯片:如果条件允许,可以尝试更换一个新的ADS1274芯片,看问题是否解决。 在测试时需要注意的问题: 1. 确保测试环境干净、无静电干扰。 2. 使用合适的测试工具,如示波器、万用表等。 3. 在测试过程中,避免对芯片施加过大的电流或电压,以免损坏芯片。 4. 在测试过程中,注意观察芯片的发热情况,如果发热异常,及时停止测试,避免进一步损坏芯片。 |
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