[问答]

LMX2572改变功率配置字，相噪会发生变化，为什么？

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 使用LMX2572评估板输出，输出频率3139MHz，相噪测试仪为R&S FSPN。发现改变功率配置字，相噪会发生变化。从pwr = 10 到 pwr = 63，相噪最大差了7dB 3.139G，无论是VCO输出还是4分频，8分频输出，其相噪都不会随功率变化，仅二分频会有此现象； tiCS pro配置如下相噪测试数据如下：请问该现象是否正常，造成该现象的原因是什么？ 0 本主题由 Harmony技术专家于 2024-11-9 14:36 审核通过
2024-11-8 16:16:51　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × 新星之火12138 该类别下有 58 个回答。邀请回答 heks 该类别下有 57 个回答。邀请回答普罗旺斯的薰衣草该类别下有 55 个回答。邀请回答 lksas 该类别下有 46 个回答。邀请回答 wang21cj 该类别下有 45 个回答。邀请回答 chm5 该类别下有 45 个回答。邀请回答 hgimtk 该类别下有 44 个回答。邀请回答 fdhsfagd 该类别下有 42 个回答。邀请回答 huzp_bbs 该类别下有 41 个回答。邀请回答 ggfx 该类别下有 41 个回答。邀请回答颜刚YanG 该类别下有 40 个回答。邀请回答 zhhx1985 该类别下有 40 个回答。邀请回答 K_Ming 该类别下有 39 个回答。邀请回答潘涛12345 该类别下有 39 个回答。邀请回答 kghfh 该类别下有 39 个回答。邀请回答 zhouxk 该类别下有 39 个回答。邀请回答 kingnet6688 该类别下有 38 个回答。邀请回答 lifei639156 该类别下有 38 个回答，其中被选为最佳答案 1 次。邀请回答 msvdsufsdf 该类别下有 38 个回答。邀请回答深海零下一度1 该类别下有 38 个回答。邀请回答举报一刀两断相关推荐 • 请问LMX2572在使用过程中当OSCin选择单端输入时，外部时钟信号必须从OSCinP引脚输入？ 141 • ADE7858校准仪表的过程中之前校准过的数据发生变化 2524 • ADE7858校准仪表的过程中之前校准过的数据会发生变化是怎么回事？ 4006 • 如何测试LM2572电路的开环相噪？如何在TIC Pro上配置参数？ 69 • LVDT位移不发生变化时，AD698所产生的输出电压在短时间内不会发生变化是怎么回事？ 320 • 采用AD604级联方式放大小信号，输入信号频率发生变化时输出信号幅度也发生变化的原因？ 250 • 方波进去积分电路后，调节方波的频率，输出波形的幅值会发生变化吗？ 18666 • 单相无刷电机功率控制 5958 • cadence射频电路在sp仿真中的gt为什么没有发生变化？ 1582 • 为什么电源发生变化，电容越大，给负载提供的电流也会变大 5044 1个回答

答案对人有帮助，有参考价值 0 LMX2572是一款高性能的频率合成器，用于产生稳定的频率输出。在改变功率配置字时，相噪发生变化可能是由于以下几个原因： 1. 功率配置字影响输出功率：功率配置字决定了输出功率的大小。当输出功率发生变化时，可能会影响相噪性能。在某些情况下，增加输出功率可能会导致相噪性能下降，因为功率的增加可能会引入更多的噪声。 2. 功率配置字影响VCO工作状态：功率配置字可能会影响VCO（电压控制振荡器）的工作状态。VCO的工作状态对相噪性能有很大影响。当功率配置字改变时，VCO的工作状态可能会发生变化，从而导致相噪性能的变化。 3. 功率配置字影响分频器性能：在您的测试中，仅二分频输出的相噪会随功率变化。这可能是因为功率配置字影响了分频器的性能。分频器的性能对相噪有很大影响，当分频器性能发生变化时，相噪性能也会发生变化。 4. 测试设备和测试条件的影响：相噪测试仪和测试条件可能会对测试结果产生影响。不同的测试设备和测试条件可能会导致相噪测试结果的差异。综上所述，该现象可能是由于功率配置字影响输出功率、VCO工作状态和分频器性能等原因导致的。要解决这个问题，可以尝试以下方法： 1. 优化功率配置字：尝试不同的功率配置字，找到最佳的配置以获得最佳的相噪性能。 2. 检查VCO工作状态：确保VCO在不同功率配置字下都能正常工作，以获得最佳的相噪性能。 3. 优化分频器设计：检查分频器的设计，确保其在不同功率配置字下都能保持稳定的性能。 4. 检查测试设备和测试条件：确保测试设备和测试条件一致，以便获得准确的相噪测试结果。总之，该现象可能是正常的，但需要进一步分析和优化以获得最佳的相噪性能。

2024-11-11 09:05:36 评论举报时见栖鸦