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SCTWA40N120G2AG型号SiC MOS,按照datasheet上给定的条件,按照开关过程计算,Eon约为127uJ,Eoff约为164uJ。开关过程计算方法:Eon=0.5*VDD*ID*(t1+t2),其中t1是门极电压从门槛电压上升到米勒平台时间,t2是米勒平台持续时间;Eoff=0.5*VDD*ID*(t3+t4),其中t3是米勒平台持续时间,t4是门极电压从米勒平台下降到门槛电压时间。
而且从datasheet中给定的下降时间来看,关断损耗也不止datasheet中的Eoff值。 计算值和给定值为什么会有这么大的差异? |
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2个回答
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驱动设计是否按照手册来的?有可能驱动未设计好,损耗增大
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有几个可能的原因导致计算值和datasheet给定值之间的差异很大:
1. 数据表中给定的条件可能不符合实际应用中的实际情况。数据表通常给出一些标准条件下的损耗值,例如特定的电压、电流和温度等。如果实际应用中的条件与数据表中给定的条件不一致,则计算值和给定值之间的差异将会很大。 2. 计算方法中使用的参数可能存在误差。计算方法中使用的参数,如门极电压上升时间、米勒平台持续时间等,可能无法准确地测量或估算。如果这些参数的估计值与实际值有较大偏差,那么计算值和给定值之间的差异也会很大。 3. MOS开关损耗受到其他因素的影响。除了计算方法中考虑的因素外,还可能有其他因素对MOS开关损耗产生影响,例如电源纹波、电压/电流噪声等。如果这些因素未在计算方法中考虑,那么计算值和给定值之间的差异也会很大。 为了减小计算值和给定值之间的差异,可以尝试以下方法: 1. 确保计算方法中使用的参数尽可能准确。使用准确的测量方法来测量或估算参数值,以减小参数误差对计算结果的影响。 2. 根据实际应用条件进行修正。如果实际应用中的条件与数据表中给定的条件不一致,可以根据实际条件对计算结果进行修正。 3. 考虑其他因素的影响。在计算方法中考虑其他可能影响MOS开关损耗的因素,以更准确地估计损耗值。 4. 进一步验证。除了计算方法和数据表给定值外,可以通过实际测试来验证和确认MOS开关损耗的值。这样可以获得更准确的损耗值,并与计算值和给定值进行比较,以进一步理解差异的原因。 |
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