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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
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学习看看，望有用～～～～～～
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谢谢分享。正好最近需要这方面的资料。
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学习一下！谢谢楼主！
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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