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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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楼主好人！！清华的也能搞到
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PCB的EMC设计指导教程 https://bbs.elecfans.com/forum.p ... &fromuid=288047 (出处: 中国电子技术论坛)
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真是太有用啦！！！！！！
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非常不错的资料，顶起来
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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