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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
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非常期待加入IC行业，下载学习一下，
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嗯，下来看看呗
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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