完善资料让更多小伙伴认识你，还能领取20积分哦， 立即完善>
3天内不再提示
电子发烧友论坛|
Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
7
|
|
相关推荐
1 条评论
521 个讨论
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
学习学习！是滴是滴
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
好资料。谢谢分享。！！！！
|
|
|
|
|
|
|
|
|
帖子很实用，是我需要的
|
|
|
|
|
|
|
|
只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
2045 浏览 0 评论
2959 浏览 0 评论
2856 浏览 0 评论
3247 浏览 0 评论
10447 浏览 5 评论
809浏览 1评论
/6 
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 （电路图） 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证：合字B2-20210191
工商网监
湘ICP备2023018690号
152055
淘帖
37533
73
赞
