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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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感谢分享
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谢谢分享，学习学习！
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资料特别好
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 挺全面的，希望对工作又帮助
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我很喜欢看这个帖子， 回复后就能看到，我 很高兴啊。
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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