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清华大学芯片测试讲义pdf

2011-11-29 16:30:57 153250 芯片测试

2 Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 7
2011-11-29 16:30:57　　 1 评论淘帖0 举报相关推荐 • 清华大学cadence讲义 38672 • 清华大学数模讲义课件 5649 • 清华大学LabVIEW教程 8214 • 清华大学成立“芯片学院” 清华大学芯片专业来了 14948 • 清华大学资料 2598 • 清华大学Labview教程 17519 • 清华大学的EMC教程 25378 • 光纤光缆测试讲义 73 • 清华大学的Cadence教程 30298 • 清华大学JAVA教程 0 1 条评论魏文渊 2023-2-7 14:02 感谢分享，谢谢赞回复举报 522 个讨论

0 谢谢

2012-10-23 21:00:15 评论举报 41^# 这么近那么远

0 比较实用，谢谢

2012-10-24 14:09:18 评论举报 42^# mouse_886

0

2012-10-28 21:08:32 评论举报 43^# 孤独行者

0 学习学习！！！

2012-10-30 21:03:39 评论举报 44^# colin

0 学习一下

2012-10-30 21:34:20 评论举报 45^# 吴光星

0 谢谢分享，呵呵

2012-11-11 21:07:52 评论举报 46^# zhrzhejiang

0

2012-11-13 10:37:15 评论举报 47^# 曾进荣

0 感谢分享！！！

2012-11-13 17:32:25 评论举报 48^# chenhahahaha

0

2012-11-16 22:04:55 评论举报 49^# 孙震伟

0 THX{:soso_e163:}

2012-11-16 22:17:13 评论举报 50^# heeton科尔沁

0 好东西，谢谢大家的分享了

2012-11-21 23:18:02 评论举报 51^# 张雨凡

0 谢谢！

2012-11-22 11:23:05 评论举报 52^# 李志勤

0 谢谢分享。

2012-11-26 12:52:14 评论举报 53^# 58648686

0 挺好的

2012-11-27 19:16:26 评论举报 54^# han006

0

2012-12-20 09:33:46 评论举报 55^# nienie

0

2012-12-20 21:59:36 评论举报 56^# D_Jay

0

2012-12-21 08:26:01 评论举报 57^# Мêゝ我在等一

0

2012-12-21 09:09:45 评论举报 58^# 于建立

0 学习下，谢谢

2012-12-21 21:00:37 评论举报 59^# 孙运仲

0 xiexie,xuexi yi xia

2013-1-16 09:45:38 评论举报 60^# 石红艳

只有小组成员才能发言，加入小组>>

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