发帖

清华大学芯片测试讲义pdf

2011-11-29 16:30:57 152053 芯片测试

2 Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 7
2011-11-29 16:30:57　　 1 评论淘帖0 举报相关推荐 • 清华大学cadence讲义 37533 • 清华大学数模讲义课件 5617 • 清华大学LabVIEW教程 8086 • 清华大学成立“芯片学院” 清华大学芯片专业来了 14891 • 清华大学资料 2569 • 清华大学Labview教程 17243 • 清华大学的EMC教程 24679 • 光纤光缆测试讲义 73 • 清华大学的Cadence教程 29547 • 清华大学JAVA教程 0 1 条评论魏文渊 2023-2-7 14:02 感谢分享，谢谢赞回复举报 521 个讨论

0 谢谢

2012-10-23 21:00:15 评论举报 41^# 这么近那么远

0 比较实用，谢谢

2012-10-24 14:09:18 评论举报 42^# mouse_886

0

2012-10-28 21:08:32 评论举报 43^# 孤独行者

0 学习学习！！！

2012-10-30 21:03:39 评论举报 44^# colin

0 学习一下

2012-10-30 21:34:20 评论举报 45^# 吴光星

0 谢谢分享，呵呵

2012-11-11 21:07:52 评论举报 46^# zhrzhejiang

0

2012-11-13 10:37:15 评论举报 47^# 曾进荣

0 感谢分享！！！

2012-11-13 17:32:25 评论举报 48^# chenhahahaha

0

2012-11-16 22:04:55 评论举报 49^# 孙震伟

0 THX{:soso_e163:}

2012-11-16 22:17:13 评论举报 50^# heeton科尔沁

0 好东西，谢谢大家的分享了

2012-11-21 23:18:02 评论举报 51^# 张雨凡

0 谢谢！

2012-11-22 11:23:05 评论举报 52^# 李志勤

0 谢谢分享。

2012-11-26 12:52:14 评论举报 53^# 58648686

0 挺好的

2012-11-27 19:16:26 评论举报 54^# han006

0

2012-12-20 09:33:46 评论举报 55^# nienie

0

2012-12-20 21:59:36 评论举报 56^# D_Jay

0

2012-12-21 08:26:01 评论举报 57^# Мêゝ我在等一

0

2012-12-21 09:09:45 评论举报 58^# 于建立

0 学习下，谢谢

2012-12-21 21:00:37 评论举报 59^# 孙运仲

0 xiexie,xuexi yi xia

2013-1-16 09:45:38 评论举报 60^# 石红艳

只有小组成员才能发言，加入小组>>

上一页 1 234 5 6 7 8 9 10 ... 27 / 27 页下一页

芯片测试与失效分析

736个成员聚集在这个小组

精选推荐

【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）

2045 浏览 0 评论
典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)

2959 浏览 0 评论
集成电路的设计与分工

2856 浏览 0 评论
芯片检测存在问题

3247 浏览 0 评论
关于USB3.0芯片VL812的问题~~~

10447 浏览 5 评论

最新话题

大神就教：芯片焊线斜着打和竖着打有什么优缺点？

热门话题

大神就教：芯片焊线斜着打和竖着打有什么优缺点？

809浏览 1评论

创建小组步骤

创建小组创建自己的地盘
个性设置精心打造小组空间
邀请好友邀请好友加入我的小组
小组升级小组积分升级赢得社区推荐

创建属于自己的小组

快速回复 返回顶部 返回列表

关注微信公众号

电子发烧友网

电子发烧友论坛

社区合作: 刘勇; 联系电话：15994832713; 邮箱地址：liuyong@huaqiu.com

社区管理: elecfans短短; 微信：elecfans_666; 邮箱：users@huaqiu.com

返回芯片测试与失效分析

上一页 1 234 5 6 7 8 9 10 ... 27 / 27 页下一页

回复

关闭

站长推荐 /6

快速回复 返回顶部 返回列表

- 技术社区: HarmonyOS技术社区

RISC-V MCU技术社区

FPGA开发者技术社区

- OpenHarmony开源社区: OpenHarmony开源社区

- 嵌入式论坛: ARM技术论坛

STM32/STM8技术论坛

嵌入式技术论坛

单片机/MCU论坛

RISC-V技术论坛

瑞芯微Rockchip开发者社区

FPGA|CPLD|ASIC论坛

DSP论坛

- 电路图及DIY: 电路设计论坛

DIY及创意

电子元器件论坛

专家问答

- 电源技术论坛: 电源技术论坛

无线充电技术

- 综合技术与应用: 机器人论坛

USB论坛

电机控制

模拟技术

音视频技术

综合技术交流

上位机软件（C/Python/Java等）

- 无线通信论坛: WIFI技术

蓝牙技术

天线|RF射频|微波|雷达技术

- EDA设计论坛: PCB设计论坛

DigiPCBA论坛

Protel|AD|DXP论坛

PADS技术论坛

Allegro论坛

multisim论坛

proteus论坛|仿真论坛

KiCad EDA 中文论坛

DFM|可制造性设计论坛

- 测试测量论坛: LabVIEW论坛

Matlab论坛

测试测量技术

传感技术

- 招聘/交友/外包/交易/杂谈: 项目外包

供需及二手交易

工程师杂谈|交友

招聘|求职|工程师职场

- 官方社区: 发烧友官方/活动

华秋商城

华秋电路

time

recommend

hot

post

—
—
—

版
块
导
航