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1、使用指针万用表检查可控硅极性和好坏方法
根据PN结原理,可控硅三个极之间的电阻值,可用欧姆挡“R×10”或“R×100”挡测量来判别好坏。可控硅的控制极G与阴极K之间是一个PN结,在正常情况下,它的正向电阻在几十欧到几百欧之间,一般反向电阻比正向电阻要大。有时测得控制极反向电阻较小,不一定说明控制极特性差,主要应看其是否符合PN结的特点。 2、使用数字万用表检查可控硅极性和好坏方法 判断可控硅的电极数字万用表拨至二极管挡,红表笔接某一电极,黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏,则此时红表笔接的是控制极G,黑表笔接的是阴极K,余下的则是阳极A。假如两次都显示溢出,说明红表笔接的不是控制极,需更换电极重测。 测试可控硅的触发能力数字万用表拨至PNP挡,此时hFE插口上的两个E孔带正电,C孔带负电,电压为2.8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出,阳极A、阴极K引线分别插人E孔和C孔,控制极G悬空。此时可控硅关断,阳极电流为零,将显示000。 把控制极G插入另一个E孔。显示值将从000开始迅速增加,直到显示溢出符号后,立即又变成000,然后再次从000变到溢出,这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但这样的测试由于电流较大,应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。 如果使用NPN挡,可控硅阳极A应接C孔,阴极K接E孔,以保证所加的是正向电压。检查触发能力时,控制极不要插入B孔,因B孔的电压较低,可控硅无法导通。 |
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