[讨论]

HAST试验与THB试验类似，但THB实验时间太长了，是否可以HAST替代? 是否有限制?

2020-7-23 14:17:18 6898

0 目前业界常用的THB试验条件为85℃,85% RH,1000 hours(可参考Temperature-HumidityBias Life Test, JESD22-A101)，确实因试验时间冗长严重影响新产品开发阶段，试验结果取得的时效性。因此HAST (HighlyAccelerated Temperature and Humidity Stress Test) 透过加速应力条件 (130℃/110℃,85% RH,,参考JESD22-A110)可大幅缩短试验时间，同时更易于激发出芯片器件在严峻之高温高湿环境下可能发生的失效缺陷。唯有选择HAST作为产品试验条件前,需先确认产品的材料特性是否可承受高温环境(130℃/110℃)及高压应力(230/122KPa)，避免因材料特性限制而产生非关联性之失效。答案来自上海苏试宜特 0 捕获.JPG (17.76 KB, 下载次数: 0)
2020-7-23 14:17:18　　评论淘帖0 举报相关推荐 • THB与HAST如何选择？ 4378 • Hast老化试验测试 3 • AEC Q101——HAST试验介绍 1842 • 什么是高低温湿热试验（THB）？ 236 • 高压蒸煮试验(HAST)介绍 7070 • HAST非饱和老化试验箱的基础介绍 807 • 什么是芯片的HAST测试？ 197 • 高压加速老化试验箱PCT和HAST的区别 2985 • RISC-V是否可以替代ARM? 3101 • 什么是SPI试验限制？ 1674