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由于工艺的差异,芯片参考电阻0和参考电阻1连线的斜率需要校准,这样一致性会更好也更准确。
思路:在外部外接已知的固定电阻,根据计算电阻的公式: R=((R1-R0)∗(ADrx-AD0))/(ADr1-ADr0-K) 可以反推出公式分母上的k是多少,并保存在flash中,下次测量外部未知电阻时从flash读出代入公式计算未知电阻。 校准方法: Step1:CS125x电流电压端子外接电阻(误差<=1%)例如500欧,计为R. Step2:使系统进入cs125x校准模式(类似人体秤的重量标定模式,开发人员实现), Step3:测量内短AD码、参考电阻0 AD码、参考电阻1 AD码、外接电阻AD码分别计为AD0 、ADr0、ADr1、ADrx;参考电阻0、参考电阻1的电阻阻值分别计为R0、R1,得到以上数据. Step4:计算校准因子k=ADr1-ADr0-(ADrx-AD0)*(R1-R0)/R .(k可正可负) Step5:把k值保存入flash(要求掉电不丢失) Step6:下次计算外部未知电阻时使用保存的k值带入计算. |
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使用CS1232 采集一个小信号,信号有可能是正,也可能是负 ,是不知道怎么回事情?
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请问有关于CS32A010系列的ADC模块的单端采样例程吗;
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