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当我在NFig模式下使用E44446A Spec时,每次扫描的扫描速率> 6秒,11个频率点。
这是合理的 - 可以设置得更快吗? 在NFig Meas模式下,E44446A配置为1)输入调谐频率:750M至1250M,11点2)平均OFF; RBW =“自动”(设置为1MHz)2)内部前置放大器ON(选项1DS)4)下变换器MOde 4)被测器件; 通常NFig> 12dB,增益> 24dB。 5)噪声源:15dB ENR。 NFig Meter模式比频谱分析仪模式慢3个数量级。 这是否合理? 有没有办法在规格分析仪模式下手动控制扫描速率。 在NFig模式中,扫描速率为“灰显”,即禁用。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 When I use the E44446A Spec in NFig mode, the sweep rate is > 6 seconds per sweep, for 11 freq points. is this reasonable - can it be set faster? In NFig Meas Mode, the E44446A config is 1) Input tuned freq: 750M to 1250M , 11 points 2) Average OFF; RBW ="Auto" (set at 1MHz) 2) Internal pre amp ON (Option 1DS) 4) Down Converter MOde 4) Device Under Test; typically NFig > 12dB, gain > 24dB. 5) Noise source : 15dB ENR. The NFig Meter mode is 3 orders of magnitude slower than the spectrum analyzer mode. Is this reasonable. Is there a way to manually control the sweep rate as in spec analyzer mode. In NFig mode, the sweep rate is 'grayed out", i.e disabled. |
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1个回答
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可能是合理的,NF测量测量...噪音。
因此,要在测量中获得低抖动(变化),必须使用大量和大量的平均值。 我不确定用户是否可以调整噪声平均值,但如果是这样,您的结果会有更多变化。 SA NF应用需要2个噪声测量:热和冷; 冷源方法(例如在PNA-X中使用)只有一个噪声测量,因此固有的速度提高了2倍。 此外,NF数据的处理可能无法完全优化,因此它也会降低测量结果的速度。 最后,移动预选器(取决于频段)可能会进一步减慢测量速度,但我不认为预选器在您的乐队中使用。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 probably reasonable, NF measurements measure...noise. And so to get low jitter (variation) on the measurement, lots and lots of averaging must be used. I'm not sure if the noise averaging can be adjusted by the user, but if so, you would get more variation in your result. Furhter the SA NF application requires 2 noise measurements: hot and cold; Cold-source methods (such as used in the PNA-X) have only one noise measurement, and so are inherently 2x faster. Further the processing of the NF data may not be fully optiized, so it can also slow down the measurement results. Finally, moving the pre-selector (depending upon bands) may slow down the measurement further, but I don't think the preselector is used in your band. |
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