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首先感谢这里这么多热心的人，给予的回应，帮我解决了TLE5012B的CRC的问题。
这里，我提供一下我的一些体会，供大家参考。 我的项目是对角度传感器进行选型，以便应用在我方的一个设备上。当时，有两种芯片进入视线。 一个就是TLE5012B（感谢ArrowAsia的推荐），另外一个是AS5145。 以下是两者的比较，当然我的应用中，只包括了SSC接口的读写 １。数据安全性方面，TLE5012B方面采用CRC校验，AS5145只是偶校验。实际过程中，当有干扰时，偶校验基本不够，有时候错数据也会通过校验 ２。精度，TLE5012B为15位精度，AS5145只有12位精度。在同样的环境下，TLE5012B对角度的判断以及误差也要领先于AS5145。虽然TLE5012B推荐使用10mm的磁铁，但是在做试验时，我还是使用6mm的磁铁（AS5145提供的）。即便如此，TLE5012B的表现力也超越AS5145. ３.数据通道的抗干扰能力。我这边只是通过SSC通过读取，在有电机动作时，AS5145这个接口马上会出现数据校验错误或者错误数据出现的情况，而TLE5012B的则没有。另外，我附加一句AS5145的数据线上，我还加了磁环，TLE5012就是裸数据线。这个是让我比较困扰的地方。都是同样的ＳＳＣ接口，咋差距那么大。当然数据速率上，我觉得差不多。因为我们毕竟用于汽车。 ４。在芯片附近加上磁铁（距离很近）TLE5012B有1度左右的偏差，最多到1.5度。而AL5145则偏差了２－３度。当然我也试验铁砉干扰，两个都没有出现偏差 欢迎大家讨论 
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