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非破坏性分析和SAT检测

2018-8-24 08:56:26 9793 超音波

0 超音波显微镜SAT检测超音波显微镜(SAT)，原理是藉由超音波于不同密度材料之反射速率及能量不同的特性，来进行分析。利用纯水当介质传递超音波信号，当信号遇到不同材料的接口时，会部分反射、部分穿透，机台就会接收这些信号组成影像。 SAT超音波可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层(Delaminaiton)、裂缝(Crack)、气洞及粘着状况，多用于检察芯片封胶内的缺陷。不同的样品其适用的检测探头不同，宜特拥有目前全***完整的探头组合，从低频15 Mhz至高频110 Mhz及更高阶的UHF(230MHz)超高频探头，可满足不同封装型式的芯片检测。 0
2018-8-24 08:56:26　　评论淘帖0 举报相关推荐 • X-ray检测非破坏性分析 3581 • 非破坏性分析：点针与探针量测 1893 • 破坏性物理分析(DPA)了解一下! 4218 • 晶体管的破坏性物理分析 719 • 请问如何初始化用于非破坏性测试的Geth和GTM SRAM？ 157 • 半导体集成电路破坏性物理分析详细科普！ 1024 • 非破坏性分析3D-OM超高分辨率数字显微镜 5671 • 从Intel的衰退中看破坏性创新 512 • 电机破坏性试验到底做不做 1374 • 破坏性创新，探讨特斯拉的四个新角度 4951