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参照ADXL001的datasheet进行了PCB设计，去耦电容100nF，输出滤波电容1nF，原理图如下：
测试环境： 电源：采用三节干电池供电，电压约4V 测试点：直接在PCB上接线端子（XOUT、GND）处进行测量 仪器：Tek TBS1102B示波器 测试结果： 1. 将时间调为5ms/div，当传感器静止不动时，噪声峰峰值超过100mV； 2. 将时间调为25us/div，10us/div，当传感器静止不动时，能看出周期性较强的信号，但存在多种频率成分； 3. 将时间调为1us/div，当传感器静止不动时，能看出周期性较强的信号，约为500kHz。 信号波形为后图中的黄色波形（蓝色为其他信号，勿参考）。 进行了三片芯片的测试，现象基本一致，只是幅值略有不同，与datasheet上的描述值完全不同，不知是何原因，请高人指点。 
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4个回答
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1. 建议用外部的线性电源给ADXL001供电，看看噪声是否会有改善。
2. 满电的干电池应该是1.6V左右，所以三节应该是5V左右，电压越高，噪声性能会越好。 3. 基于现有电源设计，可以考虑给电源的去耦电容C1再并联一个4.7uF的电容。 4. 测量器件的噪声，最好用RMS均方根值而不是峰峰值，尤其对MEMS器件来说，因为任何外界的振动都会峰峰值的结果产生较大影响。 |
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minwayson 发表于 2018-8-17 06:30 1. 使用线性电源进行了测试，噪声无明显改善； 2. 我所使用的干电池并非是新的，用万用表实测为4V左右，满足datasheet中的电源要求； 3. 并联了4.7uF的去耦电容后也无明显改善； 4. 目前手中没有有效的方法可以对噪声的均方根值进行测量，但经过大致估算，我实测芯片的噪声远大于datasheet中的标称值。 5. 经过反复分析，目前怀疑该噪声由芯片内部产生，但datasheet中并没有对典型波形的说明，也没有找到更详细的芯片资料，不知道贵公司是否有该芯片更详细的资料？ |
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minwayson 发表于 2018-8-17 06:30 我也有类似的问题。采用的是ADXL001-70Z CN0303采集板 和推荐的EVAL-SDP-CB1Z 控制板。 在传感器静止不动的情况下，输出电压一直存在60mv的噪音，远高于datasheet给出的噪音水平。拿掉传感器，整个数采板的噪音为1mv左右； 测量了cn0303的输出5V电源噪音为20mv? 请问datasheet给出的芯片噪音水平是否准确？或者有何方法能降低噪音？ |
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minwayson 发表于 2018-8-17 06:30 最近购买了EVAL-ADXL001-70Z评估板进行了测试，根据datasheet将输出的RC滤波设置成截止频率75k的低通滤波器，采用5V线性电源供电，直接使用示波器测量输出波形，结果如下： 怀疑该噪声为芯片内部的固有噪声，这对我们使用该芯片产生了很大疑惑：由于噪声较大，将影响基于该芯片的设备检测效果，但我们并不知道如何进一步改进。不知道贵公司有没有该芯片典型应用、典型噪声波形及典型信号波形的相关资料，方便用户们参考呢？ |
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