温控模块故障技术说明
2020年6月16日
1、 用户测试
① 用户在系统测试中发现温控模块异常。开机上电后温度为28.2 ℃,下发温度上调指令至42.8 ℃,此时温度基本不变;下发波长下调指令至13.2 ℃,此时温度仍然基本不变;
2、 我方测试
① 我方接到故障温控模块后后
第1次测试:采用12V 10A开关
电源模块(型号:LRS-120-10,明纬)供电,上电开机,温度工作点为23.5℃;发送温度上调指令至68℃,温度从23.5℃改变为33℃,随后
保持不动,出现异常;
② 由于开关电源模块无法记录电源参数,采用台式线型电源(型号:DP832, 普源)进行第2次上电测试,温控模块恢复功能,可以正常工作;
③ 第3次测试更换回原来的开关电源模块,重新上电测试,温控模块工作正常没有发现问题;
④ 后续的反复测试(上下电的反复开关机测试200次)均未发现异常;
3、 原因分析
种子源波长调谐部分的主体框架如图1所示
图1温控模块的主体框架图
3.1. 供电方面
① 发生故障时,电源指示灯正常,说明主电源12V供电无问题,并且转成5 V工作正常,以及后续变压3.3 V(MCU)、4.096 V(DAC参考)、2.048 V(MCU参考)、4.2 V(运放供电)正常;
② 由于4.2 V(运放供电)是5 V经4.8 V二次转变产生的,故而4.8 V(温控控制部分供电)工作正常;
③ 温控芯片采用4.8 V(温控控制部分供电)和5 V(温控功率部分供电)双供电模式;
① 发生故障时,可以正常发送开机指令和查询指令,且上报数据准确,说明通信芯片发送和接收工作正常;
② 波长调谐指令发送后,波长发生小幅度移动,表明通信芯片已成功发送该指令给MCU;
③ 温度改变指令在通信芯片的电平转换中发生异常,导致送给MCU的指令发生偏差,逻辑成立;(可能原因1,可能性低)
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图2 通信芯片部分硬件原理图
3.3. MCU方面
① 开机上电,其他模块正常输出,与上位机的数据交互正常,表明MCU供电正常;
② 开机上电,MCU从EEPROM调取温度设置4项参数(温度和热敏电阻的转换系数),若其中1项或多项出现问题,导致温度偏差,逻辑成立;(可能原因2,可能性低)
③ MCU接收到正确温度改变指令,但计算过程发生异常,导致送给DAC的数据出现异常,出现温度无法有效调节,逻辑成立;(可能原因3,可能性中)
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图3 MCU部分硬件原理图
3.4. DAC方面
① DAC供电4.2V不足,但DAC电压越小,对应设置温度越高,逻辑相反,排除;
② 供电超过4.2V,满足芯片工作,设置电压理论不变,逻辑不成立;并且多个运放正常工作,其共用的供电4.2 V可以判定正常;
③ 参考电平4.096V异常,若变小,导致设置电压也变小,设置温度变高,逻辑相反;若变大,导致设置电压也变大,设置温度变低,逻辑成立;
(反证:根据计算,若要发生该情况,则参考电平按照等比例关系需要变为4.096*0.37/0.117=12.95V,这一电压已超过电源电压,难以成立)
温度33℃对应的DAC电压为0.37V,68℃对应的DAC电压为0.117V;
④ DAC在将MCU送过来的指令进行数字-模拟转换时,发生异常,导致DAC输出电压偏大,设置温度变低,逻辑成立;(可能原因4,可能性中)
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图4 DAC部分硬件原理图
3.5. 温控芯片方面
① 温控芯片供电,若其中功率电平5V,电流2A不足,导致温度无法大范围改变,逻辑成立;(可能原因5,可能性中)
② 若控制电平4.8V不足,导致温控芯片内部MOS管控制开启状态不够,从而使得TEC无法有效工作,逻辑成立;
(反证:4.2 V工作正常,4.2 V是由4.8 V产生,4.8 V可以判定正常)
③ 若R117偏置匹配电阻虚焊,导致阻值变大,从而基准电流Is变小,控制平衡公式U=Is*Rt,则需要更大热敏电阻阻值Rt,对应温度则变小,逻辑成立;
(反证:用户测试过程中,设置温度和上报温度均接近对应31.3℃,则表明温控系统的平衡基准依然保持)
④ 若热敏电阻的温度-阻值关系发生变化,导致温度无法有效上升,逻辑成立;
(反证:同上)
⑤ 温控芯片内部比较电路异常,提前达到平衡状态,温度无法有效上升,逻辑成立;(可能原因6,可能性中) file:///C:UsersADMINI~1AppDataLocalTempmsohtmlclip1\01clip_image010.jpg
图5 温控部分硬件原理图
3.6. TEC方面
① TEC工作能力异常,只具备小幅度加热制冷能力,温度无法大范围改变,逻辑成立;(可能原因7,可能性中)
3.7. 热敏电阻方面
① 热敏电阻阻值和温度关系出现异常
反证:用户测试过程中,设置温度和上报温度均接近31.3℃,则表明温控系统的平衡基准依然保持
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