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光电测试技术分析
有源的光电器件是一个基本的半导体结,为了更全面的测试,不仅要求对其做正向的I-V特性测试,也要求监测反向的I-V特性。传统的激光二极管电流驱动在实验室级别是合适的,但是对于开发半导体器件完整的测试方案并不合适。而2400系列数字源表将源输出与测量的能力集成在一起,非常适用于半导体器件的特性分析。
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