瑞萨RA6E2地奇星开发板 Code Flash与Data Flash 写入数据并通过OLED显示
测评环境:e² studio + FSP( Flexible Software Package ) + RA6E2地奇星开发板
一、测评概述
1.1 测评目的
本次测评基于瑞萨RA6E2地奇星开发板,验证其内部 Code Flash 与 Data Flash 的读写功能稳定性与可靠性,测试 Flash 擦除、写入、读取及数据验证的全流程可行性,为后续嵌入式项目存储方案提供参考依据。
1.2 硬件与软件环境
| 类别 |
参数/配置 |
|---|
| 开发板 |
瑞萨RA6E2地奇星开发板 |
| 主控芯片 |
RA6E2(ARM Cortex-M33 内核,主频最高可达200MHz) |
| Code Flash 规格 |
256KB,单次写入至少128字节写入 |
| Data Flash 规格 |
4KB,支持4/8/16字节写入 |
| 开发环境 |
e² studio + FSP |
| 辅助验证 |
OLED显示屏(I2C接口,用于可视化数据) |

1.3 核心测评流程
- 初始化 Flash 控制器,配置 FSP 底层驱动;
- 对指定 Flash 块执行擦除操作,验证擦除后空白状态;
- 向 Code Flash 与 Data Flash 写入测试数据;
- 从 Flash 读取数据,通过
memcmp 函数验证读写一致性;
- 通过 OLED 显示读写状态及数据,直观呈现测试结果。
二、测评原理与代码实现
2.1 Flash 读写核心原理
瑞萨RA6E2的 Code Flash 与 Data Flash 均基于 NOR Flash 架构,遵循 "先擦除,后写入" 的操作原则:
- 擦除:将指定 Flash 块的所有字节置为
0xFF(空白状态);
- 写入:仅能将
0xFF 位改写为 0,无法直接将 0 改写为 1;
- 验证:读取写入后的数据与原始数据对比,一致则代表读写成功。
2.2 FSP库配置
对于IIC引脚的相关配置在之前帖子中讲过了,试用软件IIC主要就是把SCL和SDA引脚配置成GPIO接口,模拟IIC数据的传输即可。本次主要介绍flash相关FSP库的配置。
步骤如下:
- 打开
configuration.xml,先配置Clock,开发板有连个晶振,分别是20MHz和32.768kHz。这里一定要20MHz的主控晶振。RTC时钟晶振在这里不做要求。

- 新增flash堆栈


通过上述配置就完成了flash的FSP库的配置。
2.3 芯片内部flash Memory结构及地址
通过查阅用户手册,flash memory相关的模块框图如下:

通过上图我们可以知道应用层通过FACI向闪存子系统发起操作请求,FCU解析FACI转发的命令,结合外部信号生成时序控制逻辑,通过Flash sequencer完成操作的资源调度与流程编排。Flash sequencer根据FCU的控制指令对目标存储介质进行擦除-编程操作。
code flash的存储器地址映射如下图:

值得注意的是,每个块对应的内存容量不一样,后续代码编写需要注意,本次使用Block 13块进行操作,从0x0003_8000开始编写。
data flash的存储器地址映射如下: 
本次代码编写从起始地址0x0800_0000开始编写。
2.4 关键代码实现
本次测评采用 FSP 标准 API 完成 Flash 操作,核心代码逻辑如下:
本次所有有关flash的代码都在hal_entry.c文件下编写:
- 对相关地址寄存器的地址进行宏定义
#define FLASH_CF_BLOCK_21 0x00038000U
#define FLASH_DF_BLOCK_0 0x08000000U
#define FLASH_DATA_BLOCK_SIZE (1024*32)
- 回调函数实现
volatile bool interrupt_called;
volatileflash_event_t flash_event;
voidflash_callback(flash_callback_args_t *p_args)
{
interrupt_called = true;
flash_event = p_args->event;
}
通过回调函数,Flash操作完成后,主动触发中断然后调用回调函数并置位标志位,主程序只需要等待标志位即可,从而降低CPU资源占用率。
- 擦除flash
R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl, FLASH_CF_BLOCK_21, 1);
- 写入Code Flash
R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_CF_BLOCK_21, 256);
- 读取并验证是否写入成功
memcpy(read_data, (uint8_t *)FLASH_CF_BLOCK_21, 4);
if(memcmp(test_data, read_data, 4) == 0)
{
OLED_ShowString(1,1,"code flash: OK");
for(uint8_t i=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(2,1+i*3, read_data[i], 2);
}
else
{
OLED_ShowString(2,1,"code flash: FAIL");
assert(false);
}
data flash相关代码和code flash基本一致,因此不在展示。
整体相关实现代码如下:
#include "hal_data.h"
#include "oled.h"
#include <string.h>
#if (1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && BSP_TZ_SECURE_BUILD
bsp_ipc_semaphore_handle_t g_core_start_semaphore = {.semaphore_num = 0};
#endif
#define FLASH_CF_BLOCK_21 0x00038000U
#define FLASH_DF_BLOCK_0 0x08000000U
#define FLASH_DATA_BLOCK_SIZE (1024*32)
volatile bool interrupt_called;
volatile flash_event_t flash_event;
void flash_callback(flash_callback_args_t *p_args)
{
interrupt_called = true;
flash_event = p_args->event;
}
void hal_entry(void)
{
fsp_err_t err;
uint8_t test_data[4] = {0x1a,0x24,0x46,0x6a};
uint8_t read_data[4] = {0};
OLED_Init();
OLED_Clear();
err = R_FLASH_HP_Open(&g_flash0_ctrl, &g_flash0_cfg);
assert(FSP_SUCCESS == err);
__disable_irq();
R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl, FLASH_CF_BLOCK_21, 1);
R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_CF_BLOCK_21, 256);
__enable_irq();
memcpy(read_data, (uint8_t *)FLASH_CF_BLOCK_21, 4);
if(memcmp(test_data, read_data, 4) == 0)
{
OLED_ShowString(1,1,"code flash: OK");
for(uint8_t i=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(2,1+i*3, read_data[i], 2);
}
else
{
OLED_ShowString(2,1,"code flash: FAIL");
assert(false);
}
interrupt_called = false;
R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl, FLASH_DF_BLOCK_0, 1);
while(!interrupt_called);
R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_DF_BLOCK_0, 4);
flash_status_t status;
do{R_FLASH_HP_StatusGet(&g_flash0_ctrl, &status);}while(FLASH_STATUS_BUSY == status);
memcpy(read_data, (uint8_t *)FLASH_DF_BLOCK_0, 4);
if(memcmp(test_data, read_data, 4) == 0)
{
OLED_ShowString(3,1,"data flash: OK");
for(uint8_t i=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(4,1+i*3, read_data[i], 2);
}
else
{
OLED_ShowString(4,1,"data flash: FAIL");
assert(false);
}
#if (0 == _RA_CORE) && (1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && !BSP_TZ_NONSECURE_BUILD
#if BSP_TZ_SECURE_BUILD
R_BSP_IpcSemaphoreTake(&g_core_start_semaphore);
#endif
R_BSP_SecondaryCoreStart();
#if BSP_TZ_SECURE_BUILD
while(FSP_ERR_IN_USE == R_BSP_IpcSemaphoreTake(&g_core_start_semaphore)){}
#endif
#endif
#if (1 == _RA_CORE) && (1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && BSP_TZ_SECURE_BUILD
R_BSP_IpcSemaphoreGive(&g_core_start_semaphore);
#endif
#if BSP_TZ_SECURE_BUILD
R_BSP_NonSecureEnter();
#endif
}
#if BSP_TZ_SECURE_BUILD
FSP_CPP_HEADER
BSP_CMSE_NONSECURE_ENTRY void template_nonsecure_callable ();
BSP_CMSE_NONSECURE_ENTRY void template_nonsecure_callable (){}
FSP_CPP_FOOTER
#endif
三、测评结果与分析
3.1 功能验证结果
| 测试项 |
测试结果 |
OLED 显示内容 |
|---|
| Code Flash 擦除 |
成功 |
- |
| Code Flash 写入 |
成功 |
Code Flash: OK |
| Code Flash 数据验证 |
一致 |
读取数据:1A 24 46 6A |
| Data Flash 擦除 |
成功 |
- |
| Data Flash 写入 |
成功 |
Data Flash: OK |
| Data Flash 数据验证 |
一致 |
读取数据:1A 24 46 6A |
3.2 常见问题与解决方案
| 问题现象 |
原因分析 |
解决方案 |
|---|
| Flash 写入失败,断言触发 |
未执行擦除操作,或擦除不彻底 |
严格遵循"先擦除,后写入"流程,擦除后执行空白检查 |
| Data Flash 操作无中断回调 |
未注册 Flash 中断回调函数 |
在 FSP 配置中启用 Flash 中断,并关联回调函数 |
| 读取数据与写入数据不一致 |
写入地址错误,或数据缓存未刷新 |
确认 Flash 块地址正确性,写入后延时 1ms 再读取 |
四、测评总结与建议
4.1 测评总结
- 瑞萨RA6E2地奇星开发板的 Code Flash 与 Data Flash 读写功能稳定可靠,数据验证一致性达 100%,完全满足嵌入式项目的存储需求。
- FSP 驱动封装简洁易用,通过标准化 API 即可完成 Flash 全流程操作,降低了开发门槛。
- Code Flash 适合存储程序固件或大容量静态数据,Data Flash 适合存储小容量频繁更新的参数(如设备配置信息)。
4.2 应用建议
- 存储方案选型
- 大容量、低更新频率数据 → Code Flash;
- 小容量、高更新频率数据 → Data Flash;
- 关键数据建议采用 双备份存储,提升可靠性。
- 开发优化建议
- 擦除和写入操作耗时较长,建议在非中断敏感时段执行;
- 频繁写入的场景可引入 wear leveling(磨损均衡) 算法,延长 Flash 使用寿命;
- 利用 Flash 保护功能,对关键数据块进行写保护,防止误操作。