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您好,AFE4960是NDA器件,需要自行申请完整数据手册,您这边已经申请到了吗?
我这边暂时没有它的完整数据手册,根据您的描述,IO_SUP 是内部LDO输出电压引脚还是外部供电电压引脚? 看引脚定义应该是IO部分的外部供电,您的意思是外部供电电压和实测不符是吗? |
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AFE4960P是一款高精度、低功耗、多通道模拟前端芯片,广泛应用于数据采集和传感器接口。根据您的描述,您在原理图设计时参考了4960P EVM,但在实际生产后发现IO_SUP电压升高到了2.2V,而预期的供电电压为1.8V。以下是可能导致IO_SUP电压升高的一些原因:
1. 电源设计问题:请检查您的电源设计,确保1.8V电源稳定且没有噪声。如果电源不稳定或存在噪声,可能会导致IO_SUP电压升高。您可以尝试使用低噪声线性稳压器或DC-DC转换器来提供稳定的1.8V电源。 2. 电源去耦电容不足:在AFE4960P的电源引脚附近添加足够的去耦电容可以减少电源噪声,从而降低IO_SUP电压。请检查您的原理图和PCB布局,确保在1.8V电源引脚附近添加了足够的去耦电容(如0.1μF和10μF)。 3. PCB布局问题:不良的PCB布局可能导致信号干扰和电源噪声,从而影响IO_SUP电压。请检查您的PCB布局,确保遵循良好的布局实践,如保持电源和地线尽可能短且宽,以及避免信号线与电源线平行布线。 4. 芯片质量问题:虽然较为罕见,但芯片本身的质量问题也可能导致IO_SUP电压升高。您可以尝试更换其他批次的AFE4960P芯片,看是否仍然存在电压升高的问题。 5. 外部干扰:请检查您的系统中是否存在其他可能产生干扰的设备,如开关电源、电机等。这些设备可能会产生电磁干扰,影响IO_SUP电压。您可以尝试使用屏蔽和滤波措施来减少外部干扰。 6. 测量误差:请确保您的测量设备准确无误,以排除测量误差导致的问题。 综上所述,您可以从电源设计、PCB布局、芯片质量等方面入手,逐一排查可能导致IO_SUP电压升高的原因。希望这些建议能帮助您解决问题。 |
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