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大家好,
我们已经使用 MKM34Z256VLL7 开发了自己的设计,并希望使用模拟前端来测量差分模式下分流电阻器上的电流环路。固件基于 SDK 中的 AFE 驱动程序示例。 例如,我们使用万用表测量 R601 上的 8 mA,电压为 160.2 mV,但 AFE_SDADP0(引脚 33)和 AFE_SDADM0(引脚 34)之间为 122 mV,并在结果寄存器中得到 0x001D1666 (1,906,278)。我用 1906278*500mV /2^23 计算到 113.62 mV。 请参阅随附的 PNG 以查看我们的信号。我们从 TP600(ANAIN1_P、AFE_SDADP0)到 GND 测量到 544 mV,从 R602、CC601、CC602(ANAIN1_N、AFE_SDADM0)到 GND 测量到 422 mV。编辑:所以我们通过 AFE 获得故障电流。 这可能是由模拟前端或我的 AFE 配置引起的吗? |
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