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我在双模式下使用 STM32G431 MCU ADC。我试图控制采样率并发现了一个令人沮丧的问题。我不需要扫描多个频道。虽然获得最大采样率或通过预分频器控制采样率的唯一方法是启用扫描模式。这将是一个可以接受的变通办法,但扫描模式会将它自己不需要的伪影引入样本中。在扫描模式下,虽然我可以获得我想要的速率,但我从扫描的通道中获得了我不需要的额外数据。
如果我不使用扫描模式,采样率固定在 300ksps 左右,这不够快。除此之外,在这种情况下,通过预分频器显然不可能降低采样率。 有什么想法可以在没有扫描模式的情况下进行这些转换,同时完全控制 adc 时钟吗?
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