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许多应用处理器均需要现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)和其它大功率中央处理器(CPU)等负载的电流快速变化。这些系统的电源要求特别注意控制拓扑结构选择和输出滤波器设计,以支持快速电流阶跃。一旦设计完成,关键的挑战就是测试电源与规定的电流阶跃和转换速率。在本文中,我们举例说明了一个简单电路,可进行超过300安培/微秒(A/us)的电流转换。 用电子负载测试电源的瞬态响应很常见。对许多系统轨(如服务器的3.3V或5V总线)而言,电子负载很容易配置为在2-10A/us的范围内汲入电流的模式。但是,内核电压可能需要转换速率比这些水平高两个数量级。高转换速率测试中的一个主要限制因素是负载路径中的寄生电感。要以300A/us的速率为0.9V输出转换15A的电流,公式1计算出的最高电感是3nH。作为参考,成圈状通过电流探头的16级导线的1英寸片可将20nH的电感添加到负载路径中。很明显,需要另一种电流汲入方法…
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