JTAG的基本原理与测试总结

0 JTAG与SWD的含义与引脚前言一、JTAG二、SWD总结前言最近使用M0搭建了一个最基础的SoC但是在使用keil进行软件调试的过程中遇到了不小的问题,这里对常见的两种调试方式做一个总结一、JTAGJTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(测试访问口),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。除了TAP之外，混合IC还包含移位寄存器和状态机，该状态机被称为TAP控制器，以执行边界扫描功能。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试 0 JTAG与SWD的含义与引脚.pdf 75.16 KB , 下载次数: 3
举报淘帖0 只看该作者最近下载过的用户(2) 相关推荐 • 无线充电的基本原理是什么 2232 • 线性电源的基本原理是什么 1732 • chip probing基本原理是什么 2183 • IC测试的基本原理是什么？ 2112 • IC测试基本原理是什么？ 2316 • JTAG口的基本原理是什么？四核芯片S698PM的连接方法和注意事项是什么？ 1792 • 双脉冲测试基本原理及意义 2776 • JTAG的基本原理（共31页pdf课件下载） 2088 • ARM.JTAG.调试原理 1935 • 各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法——牛人总结，... 21939