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之前从STM32切换到华大单片机时,在adc的阻抗问题上踩过坑;最近测试瑞萨单片机时,又忘记了阻抗怎么计算。所以专门写个笔记,来做个记录。
ADC采样时的等效电路(来自STM32手册) 一般单片机内部的ADC都是SAR型,主要分采样和转换两个步骤。采样时,内部采样电容 充电,阻抗包括ADC内部等效电阻 和信号源的输出阻抗. 这是标准的RC充电电路,电容C上的电压为: 采样时间 T 固定后,电容C与源信号之间的电压误差为: 从公式可以看到,电压误差与源信号幅度有关:源信号越大,电压误差越大。当源信号与参考电压相同时,电压误差最大。 为了获得准确的ADC转换结果,要求采样的电压误差小于 1/2 LSB: 从该公式可以看出,信号源的最大输出阻抗与单片机的特性(采样电容、等效电阻、分辨率)有关,还与可配置的采样时间有关。单片机的特性我们无法改变,因此只能从采样时间上下手,可以降低ADC的工作频率或者加大ADC的采样周期。 另附目前用到的几款MCU的阻抗计算结果:
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