如何处理存储在非易失性设备中的内存数据集损坏

2021-12-24 07:27:45 1063 物联网

0 保护您的嵌入式软件免受内存损坏本文的目的是提供一种软件方法，解释如何处理存储在非易失性设备（如小型 EEPROM 或闪存）中的内存数据集损坏。在微型嵌入式系统中看到这些数据集是很常见的，这些系统存储了配置参数、关键系统日志等持久数据。这些数据集可能会在系统崩溃、电源故障或 ESD 后损坏。本文提出了一种简单但有效的机制，可以以较低的损坏可能性保存此类数据。此外，该方法包括一个众所周知的机制来检测变量损坏，因为它们可能被各种原因损坏，例如环境因素（例如，EMI、热量、辐射）、硬件故障（例如，电源波动、电源 0 保护您的嵌入式软件免受内存损坏.pdf 164.99 KB , 下载次数: 0
举报淘帖0 只看该作者相关推荐 • TPL1401数字电位器易失性和非易失性的区别是什么？ 20 • 非易失性内存有写入限制吗？ 288 • IMX6UL如何从安全非易失性存储 (SNVS) 读取或写入？ 267 • 非易失性串行FRAM有哪些优势 1402 • 0.13μm非易失性FRAM产品的性能 1392 • 非易失性MRAM基础知识汇总 1433 • 非易失性MRAM的基础知识汇总 1522 • CMOS bq4011非易失性262144位静态RAM 824 • Cypress非易失性SRAM技术 4943 • 如何存储应用程序中使用的非易失性数据？ 1586