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X-ray(2D&3D) X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置,利用X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像,即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。 检测范围: 产品研发,样品试制,失效分析,过程监控和大批量产品观测。 检测内容: 2. 观测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况; 3. 观测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷,以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块(MSP430F122+MAX491)
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