完善资料让更多小伙伴认识你，还能领取20积分哦， 立即完善>
3天内不再提示
电子发烧友论坛|
Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
7
|
|
相关推荐
1 条评论
522 个讨论
|
|
|
谢谢楼主分享~~~
|
|
|
|
|
|
|
|
|
感谢分享，谢谢
|
|
|
|
|
|
|
|
|
学习一下，感谢分享，谢谢
|
|
|
|
|
|
|
|
|
学习一下
|
|
|
|
|
|
|
|
|
不错
非常感谢楼主的资料分享 |
|
|
|
|
|
|
|
|
谢谢分享！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！
|
|
|
|
|
|
|
|
|
好东西，谢谢分享，学习。。。
|
|
|
|
|
|
|
|
|
谢谢楼主分享，初学者自学中
|
|
|
|
|
|
|
|
|
发现一个宝藏网站，nice!
|
|
|
|
|
|
|
|
|
12345678901234567890
|
|
|
|
|
|
|
|
|
学习一下，交流交流，感谢感谢
|
|
|
|
|
|
|
|
只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
2048 浏览 0 评论
2968 浏览 0 评论
2859 浏览 0 评论
3250 浏览 0 评论
10462 浏览 5 评论
817浏览 1评论
/6 
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 （电路图） 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证：合字B2-20210191
工商网监
湘ICP备2023018690号
152277
淘帖
37718
73
赞
