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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
525 个讨论
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12.23学习打卡，谢谢分享资料~~~~~~~~
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谢谢楼主分享~~~
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感谢分享，谢谢
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学习一下，感谢分享，谢谢
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学习一下
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不错
非常感谢楼主的资料分享 |
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谢谢分享！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！
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好东西，谢谢分享，学习。。。
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谢谢楼主分享，初学者自学中
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发现一个宝藏网站，nice!
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学习一下，交流交流，感谢感谢
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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