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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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我学到了很多，很不错，对我帮助很大，清华大学就是不一样。
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学习学习，了解一下芯片测试的流程和方法，提高自己学习水平
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你好，这个测试讲义是要回复才能看吗，希望能够学习一下，谢谢，非常感谢
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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