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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
522 个讨论
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谢谢楼主
 无私分享
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感谢楼主分享！！！
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学习参考，希望多分享
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谢谢楼主分享！！学习一下
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想看内容，谢谢。
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学习学习。。zzzzzz
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谢谢分析，学习一下
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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