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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
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学习一些，希望有帮助，谢谢！
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感谢楼主的分享，
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谢谢分享！！！
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谢谢楼主分享！！！
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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