求一种基于高速转换芯片ADC08D1000的采集系统的设计和实现

　　1 ADC08D1000的结构
　　ADC08D1000是NS（National Semiconductor，国家半导体）公司于2005年推出的双通道低功耗的高速8位A／D转换器，其最高单通道采样频率达1.3 GHz，全功率带宽（FPBW）为1.7 GHz，在500 MHz标准信号输入的情况下可以获得7.4位的有效采样位数。整个A／D转换器用单电源1.9 V供电，内带高质量参考源和高性能采样保持电路，每个通道均为差分输入，采样范围可选为650 mV或870 mV（峰-峰值）。在高速数／模转换系统中，有两大难点：一个是数／模转换器输出信号的完整性，另一个是输出信号的速度太高。这两个难点在ADC08D1000上都得到了比较好的解决。
　　为了提高数字输出信号的完整性，降低电源功耗，该A／D转换器采用了低电压差分传输（LVDS）技术来传送高速数／模转换器的输出信号，接收端电压的摆幅极小，仅有350 mV，这样就可以用更短的翻转时间，使传输信号的频率进一步提高。虽然电压摆幅很小，但由于是差分信号，只要电路走线得当，就可以极大地抑制共模噪声，得到比TTL／CMOS电平传输更好的抗干扰效果和更低的辐射噪声。
　　为了降低输出信号的速度，该A／D转换器采取了增加输出信号带宽，降低输出信号速度的做法。为了实现这种做法，在数／模转换器内部有一个2路分配器（DE-MUX），将2个采样点的数据分配到2个8位总线上，然后每2个采样周期输出1次16位数据。由于采用了这种办法，数据传输率会降低一半，但每次接收的数据位数会增加1倍。以1 GHz的采样率为例，模／数转换器的输出不再是以1 GHz的速率输出8位数据，而是以500 MHz的速度输出16位的数据。此外，该A／D转换器还提供了双倍数据传输率（DDR）技术，可以利用时钟的上升及下降沿将数据送至输出端，这样可以进一步降低传输的时钟频率。在本系统设计中，对于与A／D转换器接口比较高端的FPGA，其LVDS接收器能够接收500 MHz的时钟频率，所以未采用DDR方式；对于一些低端的FPGA，最好采用DDR方式。
　　ADC08D1000结构框图如图1所示。
　　
　　2 硬件电路设计
　　2.1 A／D转换器外围电路设计
　　A／D转换器的外围电路设计如图2所示。
　　
　　该A／D转换器的模拟信号输入（包括采样时冲和2路采样信号），最好采用差分输入而不是单端输入，这对最后的性能影响很大。如果被采样的信号经过前端的滤波和放大（限幅）电路，最后进入采集系统的是单端信号，这时可以将单端信号变成差分信号。为了将单端信号变成差分信号，设计中采用了BALUN（非平衡变压器，型号是ETC1-1-13），如图3所示，其工作范围是4.5～3000MHz，传输比是1：1。电路如图4所示，5脚是BALUN输入，1脚是输出正端，3脚是输出负端，分别将差分信号接到A／D转换器对应的差分输入端。由于ADC08D1000的差分输入阻抗是100 ，所以在BALUN的差分输出上接了100 的电阻，将BALUN的输出阻抗转换为50 的差分阻抗。
　　
　　该A／D转换器的控制接口有两种：一种是将相应的控制引脚接固定电平的简单控制，在这种模式下不能使用时钟双边沿送数；另一种是基于SPI口的复杂控制，可以在这种控制模式下使用该A／D转换器的所有功能。两种控制的接口电路都比较常见。值得一提的是，这块A／D转换器可以对其模拟接口的输入阻抗进行校正，使偏移误差、增益误差和线性误差被降至最低。方法是在REXT脚上串联一个3.3 k 的电阻到地，在校正时，REXT脚对地电阻的1／33将被用作输入阻抗，所以对这个电阻的精度要求很高，可以考虑用精度0.1％的精密电阻。（精度最好不要低于1％）。
　　2.2 与FPGA数据接口电路
　　A／D转换器的数据输出是用的34对LVDS线进行传输，其中有2个16位的数据通道、1个输出数据锁存时钟和1个溢出标志（这个溢出标志在2个通道的任何一个采集数据超出范围时有效。）
　　LVDS的部分电平标准在ANSI／TIA／EIA-644中规定如表1所列。
　　
　　在ADC08D1000中，表中列出的3个参数都与该协议兼容，参数的解释如图5所示。LVDS的驱动器和接收器都不依赖于特殊的电源电压（如5 V），
　　因此，LVDS很容易移至低供电电压（如3.3 V或2.5 V）。
　　
　　对高速LVDS的电路设计和电路板走线来说，有两个方面的问题必须引起高度重视：一个是接收端与走线的阻抗匹配问题；另一个就是相同差分对走线必须紧密耦合，不同差分对之间的走线长度要一致。
　　就第一个问题而言，LVDS的驱动器输出是一个驱动差分线对的电流源，而接收器具有高直流输入阻抗，因此，需要在靠近接收器的地方有一个负载将电流转换成电压。在协议上规定，接收端需要有100 的差分负载，所以在电路上需要在差分线对之间接一个100 的电阻。LVDS的标准电流是3.5 mA，可以在负载上产生350 mV的电压，驱动器的切换会改变流经电阻的电流方向，这样在接收端就可以产生有效的“1”和“0”电平。然而，在高速信号传输过程中，传输线的特性阻抗是比较大的，这就需要在上述的100 电阻和传输线之间进行匹配。在协议中建议采用差分微带线（microstrip）或者差分带状线（strip-line）来设计LVDS走线。如图6所示，无论是微带线还是带状线，都需要一个以上完整的等电势面（通常选地平面），所以至少需要4层以上的PCB。在本系统中，由于FPGA是484脚的FBGA封装，所以采用了8层板，LVDS走线采用的是差分微带线。差分微带线的特性阻抗需要设计为ZDIFF=100 ，公式为：
　　
　　
　　其中式中：ZDIFF和Z0的单位为Ω。
　　式中的ω、s、h、t如图6所示，其单位需要保持一致；εγ是电路板材料的介电常数，根据不同的电路板材料。有不同的介电常数。因为LVDS上的数据速率只有500 Mbps（不是很高），所以在本设计中选择的是最常用的FR-4材料（俗称“玻纤板”）。玻纤板的介电常数是4.1～5.3。如果速度超过1 Gbps，那么最好使用更小介电常数的材料（如GETEK，介电常数为3.8～3.9）。公式中其他参数的设计需要根据制板厂家的工艺尺寸来确定。本设计中，ω、s、h均为4 mil（目前国内已经能达到的工艺，1000 mil=25.4 mm），t忽略。由于在本设计中微带线只是在顶层走线，所以顶层和第2层的距离是h。
　　
　　在第二个问题，相同差分对间走线的耦合上，由于器件的引脚间距和过孔尺寸问题，要实现差分走线的任何地方都是4 mil是很困难的，只能尽量缩短非紧耦合线路的长度，具体处理方法可以参见图7和图8的走线方式。注意，差分对间的间距至少要大于3倍差分对的宽度，因为差分对线的干扰在近距离的地方还是比较强的。对于高速信号，电路板线上的延时是不能忽略不计的，这个延时与差分对线的ω、s、h、εγ相关，还与走线长度成正比。因为在设计差分对走线时，对ω、s、h、εγ均统一设置了，所以一般只与走线长度相关。在本设计中，将差分对线的长度定为4 120 mil～4 180 mil，走线长度和容限可以根据具体电路板的布局进行调整，但是容限最好不要超过100mil；否则，在接收的时候可能因为数据的相位相差过大而采集不到正确的数据。
　　
　　
　　本系统选择的FPGA（Stratix II，EP2S60）上，有足够的LVDS接收脚，还有LVDS接收器和解串器，就没有必要去选择额外的LVDS接收器件；但是，对一些低端的FPGA来说，LVDS接收脚不足或者没有，这时必须选择外部的LVDS接收器。在选择接收器件时要注意的是，接收端的100 电阻是器件内部提供还是需要外接。本设计选择的FPGA上的LVDS接收器已经带有这个电阻了，但是LVDS时钟接口上没有提供这个电阻，所以在图8上只有LVDS时钟接收端可以看到电阻。
　　2.3 A／D转换器的电源设计
　　由于ADC08D1000是低功耗的，在双通道1 GHz的采样频率下，消耗的电流不到1 A，功率不到1.8 W，所以电源就比较好设计。电源方案用常见的DC-DC加LDO就可以了，又因为电流不大，所以LDO的选择范围比较大。芯片的模拟部分和数字部分的供电可以用电感隔开，如图9所示。注意，流过电感的最大电流不要超出所用电感的承受能力。
　　在电源的设计中，还有一个问题要特别注意，那就是在LDO上电的瞬间会产生电压尖峰（voltage spike）。这个尖峰的产生是由于上电瞬间，负载芯片只吸取很低的电流，会造成电压瞬间出现一个高峰，对于ADC08D1000和许多其他电源敏感器件，这个电压尖峰不仅会缩短器件寿命，还可能直接损害器件。对于ADC08D1000，任何模拟引脚上的输入不能超过标称电源范围150 mV，否则有可能损坏器件。解决的办法是在LDO的输出端并联一个100 的电阻，以提供一个恒定的最小负载，如图10所示。
　　
　　2.4 采样时钟的要求及对性能的影响
　　本设计没有将采样时钟设计在采集系统中，而需要由外部提供一个比较稳定的时钟源。时钟电路是高速数据转换系统最重要的子系统之一，因为时钟信号能否准确定时会直接影响模／数转换器的动态性能。为了减小其影响，模／数转换器时钟电路的定时抖动或者相位噪声必须极低。若外部提供的时钟源没有将这个因素加以考虑，那么整个系统的性能可能会不如想象的完美。但实际上，时钟沿总是不断出现在不同时间内。正因为时间的不确定性，取样后波形的信噪比会受到数据转换过程的影响。只要因为抖动产生的噪声不超过量化噪声（1／2 LSB）最大的时钟抖动容限时间就能适应任何抖动源，其数值Tj（rms）可用以下公式计算出来：
　　
　　在该公式中，VINFSR是A／D转换器的最大输入量程，VIN（P-P）是实际的输入被采样波形的电平幅度，N是转换器的分辨率，fin是输入信号的频率。当采用低通采样（即输入频率不超过奈奎斯特率）时，1 Gsps的采样率的最高输入频率不超过500 MHz，再假设是满量程输入，则总拌动容限时间要求为：
　　
　　这个值是外部时钟源的抖动和A／D转换器器件的采样保持电路（SHA）的孔径抖动（Aperture Jitter，Taj）的均方值。ADC08D1000的孔径抖动的典型值为0.4 ps，所以外部时钟源的抖动容限时间要求为：
　　
　　在设计外部振荡器时，其性能参数要符合抖动的要求。因为与基本频率并存的其他频率也发挥极其重要的作用，所以必须确保基本频率能量不会在频谱范围内过宽，且有比较低的杂散信号。
　　结 语
　　本文详细介绍了一种基于高速转换芯片ADC08D1000的采集系统的设计和实现，对设计中的一些关键性问题给予了解决方案和详细的分析。在超高速数据转换系统的设计中，需要面对很多的挑战。这类转换系统是真正的混合信号系统，必须小心考量所有子电路的伉缺点，才能确保模／数转换器充分发挥其强劲的性能。