完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦, 立即完善>
|
|
相关推荐
6个回答
|
|
这是某电力产品的一个真实案例:一批电计量产品存在仓库没上线,刚好南方天湿气重PCB上凝露,出现大量32768停振情况。所以今天我们要跟大家分享的就是32768晶振,后面我们还会提到几个相关的案例和注意事项。
一张图看尽石英晶振家族 图片中已经对Tuning Fork(音叉)圈出来了!这就是今天要说的32768晶振的本质。压电效应、谐振、泛音这些基础性的名词此处不再赘述,不会的可以自行问度娘。 音叉不仅仅是个学名,而是真实的存在的结构(图中叉形部分就是切割好的石英)。 看完这个结构,后面讲到一个案例(生产中32768大量损坏)时就容易理解了。 |
|
|
|
32768晶振要求配15pF电容吗?
认真的说,这是一个经常出现的设计误区,包括网上很多关于32768晶振的问答。 我读书时(忽略我的年纪)也确实这样做的:去电子市场买来32768晶振,参照别人的原理图配上15pF,22pf的电容就直接用。现在来看,这只是入门级的经验值而已。 比如,同样是日本KDS品牌的2*6封装的32768晶振,就有两种负载电容: DT-26 32.768kHz 6PF 10PPM DT-26 32.768kHz 12.5PF 10PPM 负载电容(英文符号CL或者CLoad)是2部分构成的:一部分是焊接的物料/实际电容,另一部分是PCB走线、焊盘引起的寄生电容/杂散电容Cstray (一般2-5pF)。 至此,已经解决了一部分人的疑惑:哦,原来晶振datasheet中的负载电容参数,并不是我要贴的电容值。 计算公式和图示如下: 你也许会有疑问:我用的MCU原厂提供的参考设计,根本就没有图中的RD和RF。 是的!没错!RD在目前流行的MCU中很少见。RF有少部分MCU或者IC还在用。 振荡波形发生畸变、削峰时,可使用RD(几十K到几百K)。 RF常见采用1M欧姆,一般参照IC的datasheet,跟IC设计/内部驱动有关。 问题来了:我见过有的单片机接了32768晶振,但是没接负载电容的,是有这种情况吗? 答案是肯定的,因为有的IC可以配置选用内部的负载电容,比如Ti的MSP430x2xxx系列,内部配备了1pF,6pF,10pF,12.5pF四档负载电容可选。 |
|
|
|
32768晶振误差有多大?
晶振的误差用PPM(百万分之一)来表示,误差由三部分构成:出厂误差,温度漂移,以及年老化率。 出厂误差:一般是出厂前筛选控制一个范围出来,比如±10PPM; 温度漂移:如图,32768晶振有个典型的温度曲线; 年老化率:这个是很容易被忽视的参数,但是关系到产品使用的寿命,比如RF通信中如果使用劣质晶振、随时间漂移较大,几年后可能就通信不上了(特别是窄带通信)。 这里也提到另外一个问题,就是前面图中负载电容部分使用的2个电容CD和CG,通过微调这2个电容,可以微调晶振的频率。在要求高的设计中,一般建议采用性能最稳定C0G (EIA标准,美国电工协会)或者NP0(美国军用标准MIL)材质 |
|
|
|
32768晶振误差怎样补偿?
对时钟要求不高的普通的消费电子应用,32768晶振其实不用补偿。有个例外,随着智能手机的普及,BLE现已经广泛的应用于消费电子,但是它的32768晶振部分还是要好好设计和控制的(后面会提到)。 从图片的几个典型值来看,30个PPM每天漂不到3秒钟嘛,有必要补偿吗? 做国网电表的朋友肯定不会这样想,因为标准要求时钟误差小于每天0.5秒。这其实是一个头疼事,因为这就要求出厂误差加温漂控制到小于5PPM。解决方案有两个: 一、SoC方案,要求主控MCU配备支持误差修正的RTC模块以及温度采集。TI的msp430系列,部分型号带有RTC模块,支持写入校准值和温度补偿值。钜泉计量MCU,HT6xxx中也配备了带补偿的RTC模块,如图介绍。 二、使用外部已经做了温度修正的晶振模块,eg. ST的M41TC8025,EPSON的RX-8025T等等。 |
|
|
|
32768用于BLE
BLE低功耗蓝牙技术,随着iphone4S的热卖得到了极大的推广。 BLE低功耗的实现原理:绝大部分时间从机保持超低功耗休眠,包括关掉RF使用的高频晶振(TI cc254x系列的32M,cypress BLE芯片的24M),间歇性的打开RF握手通信,保持链路的正常连接状态。划重点,这个时间间隔就是靠32768晶振来实现的。遇到过多家实际案例,如果这个晶振没有做品质控制,就很容易出现超时断开。 例如,cypress PSoC datasheet中就支持软件配置来补偿这个休眠时钟: 在Ti芯片中也有类似的机制。 当然,这不是哪家芯片厂自己想出来的;追根溯源,这个在bluetooth官方的specification中有明确的要求和约定。 |
|
|
|
32768晶振案例、设计、生产注意事项
A、注意手册中的精度参数、负载电容、ESR等指标。 B、插件封装的32768晶振,有人喜欢外壳焊接接地。如果手工焊接,烙铁温度过高或者焊接时间太长,很容易造成晶振的永久性损坏。这个也是真实的生产案例。 C、文章开头,南方天潮湿的这个案例中,晶振区域、相关引脚一定要涂三防漆保护。 D、超声波焊接塑胶外壳,非常容易引起32768晶振的损坏(频率接近,超声波引起晶振内音叉共振),这种真实案例也很多,切记!切记! E、PCB layout中晶振布局和走线。网上也有,不多讲,此处只给出几个参考设计。 F、晶振、精密运放等器件,经常是怕焊锡膏的。原因是什么?焊锡膏等对弱信号是有影响的。我们也有多个生产后测试不良(清洗后板子后工作正常)的案例。 CAMBRIDGE UNIVERSITY书中的几个振荡电路赏析 |
|
|
|
只有小组成员才能发言,加入小组>>
921 浏览 1 评论
1077 浏览 1 评论
12502 浏览 0 评论
5921 浏览 3 评论
17713 浏览 6 评论
1020浏览 1评论
1010浏览 1评论
923浏览 1评论
4609浏览 1评论
1082浏览 1评论
小黑屋| 手机版| Archiver| 电子发烧友 ( 湘ICP备2023018690号 )
GMT+8, 2024-12-18 10:27 , Processed in 0.917795 second(s), Total 91, Slave 72 queries .
Powered by 电子发烧友网
© 2015 bbs.elecfans.com
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 (电路图) 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证:合字B2-20210191 工商网监 湘ICP备2023018690号