单片机开发需要掌握的四大基本技巧分享

           有很多刚入行的初学者工程师在单片机这个领域经常是蒙圈的状态，完全不知道该从何下手，在开发过程中：代码的使用效率问题、单片机抗干扰性、可靠性等问题经常困扰着他们。为此，小编归纳总结出单片机开发中应该掌握的四大基本技巧，不要错过哦~        

二、如何减少程序中的bug？
                对于如何减少程序的bug，给出了一些建议，指出系统运行中应考虑的超范围管理参数有：        
                1．物理参数。这些参数主要是系统的输入参数，它包括激励参数、采集处理中的运行参数和处理结束的结果参数。合理设定这些边界，将超出边界的参数都视为非正常激励或非正常回应进行出错处理。        
                2．资源参数。这些参数主要是系统中的电路、器件、功能单元的资源，如记忆体容量、存储单元长度、堆叠深度。在程式设计中，对资源参数不允许超范围使用。        
                3．应用参数。这些应用参数常表现为一些单片机、功能单元的应用条件。如E2PROM的擦写次数与资料存储时间等应用参数界限。        
                4．过程参数。指系统运行中的有序变化的参数。        

四、如何测试单片机系统的可靠性
                有读者希望了解用用什么方法来测试单片机系统的可靠性“当一个单片机系统设计完成，对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法，但是有一些是必须测试的：        
                1．测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试，测试软件是否写的正确完整。        
                2．上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况，可以进行多次开关电源，测试单片机系统的可靠性。        
                3．老化测试。测试长时间工作情况下，单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温，高压以及强电磁干扰的环境下测试。        
                4、ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力；使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。        
                还可以模拟人为使用中，可能发生的破坏情况。例如用人体或者衣服织物故意摩擦单片机系统的接触端口，由此测试抗静电的能力。用大功率电钻靠近单片机系统工作，由此测试抗电磁干扰能力等。        
                以上四大技巧，你学会了吗？学会不重要，运用的好才是重点！！