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平板电脑的可靠性测试主要是为了测试其性能是否达到标准要求,通过模拟平板电脑在不同环境下的使用情况,来进行可靠性的评估。
平板电脑可靠性测试项目包括高低温环境下的操作、循环、存储测试,冷热冲击测试,老化测试,湿热测试、高空跌落测试,耐盐雾、耐腐蚀测试、抗冲击、振动测试等等。平板电脑的触摸屏、摄像头、电池等组件以及内部电路和连接器的连接、传输等也都需要经过测试。测试中有电流传输和信号导通的需求,可用弹片微针模组进行连接。 弹片微针模组在平板电脑测试中拥有稳定的连接功能,在大电流传输中,能通过1-50A范围内的电流,且连接稳定,无电流衰减,可更好的保证平板电脑通过大电流测试。在小pitch领域内,特别是≤0.2mm的pitch中,都可保持极佳的连接性能,即使长时间应对也不会卡PIN、断针,表现力和寿命都远超其他模组。平均20w次以上的使用寿命,能在平板电脑大批次高频率的测试中保持超强的连接性,提高平板电脑的测试效率,还能在最大程度上节省时间和物力成本,避免材料的浪费。 |
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