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1)实验平台:alientek 阿波罗 STM32F767 开发板
2)摘自《STM32F7 开发指南(HAL 库版)》关注官方微信号公众号,获取更多资料:正点原子 第四十二章 FLASH 模拟 EEPROM 实验 STM32F767 本身没有自带 EEPROM,但是 STM32F767 具有 IAP(在应用编程)功能,所 以我们可以把它的 FLASH 当成 EEPROM 来使用。本章,我们将利用 STM32F767 内部的 FLASH 来实现第三十三章实验类似的效果,不过这次我们是将数据直接存放在 STM32F767 内部,而 不是存放在 W25Q256。本章分为如下几个部分: 42.1 STM32F767 FLASH 简介 42.2 硬件设计 42.3 软件设计 42.4 下载验证 42.1 STM32F767 FLASH 简介 不同型号的 STM32F7xx 芯片,其 FLASH 容量也有所不同,有 1MB/2MB 等不同容量的产 品。阿波罗 STM32F767 开发板选择的 STM32F767IGT6 的 FLASH 容量为 1024K 字节(1MB), STM32F767IGT6 的闪存模块组织如表 42.1.1 所示: 表 42.1.1 STM32F767IGT6 闪存模块组织 STM32F767IGT6 的闪存模块由:主存储器、系统存储器、OPT 区域和选项字节等 4 部分 组成。 主存储器,该部分用来存放代码和数据常数(如 const 类型的数据)。它可以分为 1 个 Bank 或者 2 个 Bank,可以通过选项字节的 nDBANK 位来设置,默认是一个 Bank 的,表 42.1.1 所 示即单 Bank 的闪存组织结构。关于双 Bank 的详细设置,请参考《STM32F7xx 参考手册》第 3 章的相关内容。本章我们仅以单 Bank 做介绍。 在单 Bank 模式下,STM32F767 的主存储器被分为 8 个扇区,前 4 个扇区为 32KB 大小, 第五个扇区是 128KB 大小,剩下的 3 个扇区都是 256KB 大小,总共 1M 字节。 因为 STM32F7 的 FLASH 访问路径有两条:AXIM 和 ITCM,对应不同的地址映射,表中 我们列出了这两条不同访问路径下的扇区地址范围。我们一般选择 AXIM 接口访问 FLASH, 其主存储器的起始地址就是 0X08000000。 系统存储器,这个主要用来存放 STM32F767 的 bootloader 代码,此代码是出厂的时候就固 化在 STM32F767 里面了,专门来给主存储器下载代码的。当 B0 接 V3.3,默认从系统存储器启 动。 OTP 区域,即一次性可编程区域,共 1056 字节,被划分为 16 个 64 字节的 OTP 数据块和 1 个 16 字节的 OTP 锁定块。OTP 数据块和锁定块均无法擦除。锁定块中包含 16 字节的 LOCKBi (0≤i≤15),用于锁定相应的 OTP 数据块(块 0 到 15)。每个 OTP 数据块均可编程, 除非相应的 OTP 锁定字节编程为 0x00。锁定字节的值只能是 0x0 和 0xFF,否则这些 OTP 字 节无法正确使用。 闪存存储器接口寄存器,该部分用于控制闪存读写等,是整个闪存模块的控制机构。 在执行闪存写操作时,任何对闪存的读操作都会锁住总线,在写操作完成后读操作才能正 确地进行;既在进行写或擦除操作时,不能进行代码或数据的读取操作。 闪存的读取 为了准确读取 Flash 数据,必须根据 CPU 时钟 (HCLK) 频率和器件电源电压在 Flash 存取控制寄存器 (FLASH_ACR) 中正确地设置等待周期数 (LATENCY)。Flash 等待周期与 CPU 时钟频率之间的对应关系,如表 42.1.2 所示: 表 42.1.2 CPU 时钟(HCLK)频率对应的 FLASH 等待周期表 等待周期通过 FLASH_ACR 寄存器的 LATENCY[3:0]四三个位设置。系统复位后,CPU 时 钟频率为内部 16M RC 振荡器,LATENCY 默认是 0,即 1 个等待周期。供电电压,我们一般 是 3.3V,所以,在我们设置 216Mhz 频率作为 CPU 时钟之前,必须先设置 LATENCY 为 7,即 8 个等待周期,否则 FLASH 读写可能出错,导致死机。 正常工作时(216Mhz),虽然 FLASH 需要 8 个 CPU 等待周期,但是由于 STM32F767 具 有自适应实时存储器加速器(ART Accelerator),通过指令缓存存储器,预取指令,实现相当于 0 FLASH 等待的运行速度。 STM23F7 的 FLASH 读取是很简单的。例如,我们要从地址 addr,读取一个字(一个字为 32 位),可以通过如下的语句读取: data=*(vu32*)addr; 将 addr 强制转换为 vu32 指针,然后取该指针所指向的地址的值,即得到了 addr 地址的值。 类似的,将上面的 vu32 改为 vu8,即可读取指定地址的一个字节。相对 FLASH 读取来说, STM32F767 FLASH 的写就复杂一点了,下面我们介绍 STM32F767 闪存的编程和擦除。 闪存的编程和擦除 执行任何 Flash 编程操作(擦除或编程)时,CPU 时钟频率 (HCLK)不能低于 1 MHz。如 果在 Flash 操作期间发生器件复位,无法保证 Flash 中的内容。 在对 STM32F767 的 Flash 执行写入或擦除操作期间,任何读取 Flash 的尝试都会导致总线 阻塞。只有在完成编程操作后,才能正确处理读操作。这意味着,写/擦除操作进行期间不能从 Flash 中执行代码或数据获取操作。 STM32F767 的闪存编程由 7 个 32 位寄存器控制,他们分别是: FLASH 访问控制寄存器(FLASH_ACR) FLASH 秘钥寄存器(FLASH_KEYR) FLASH 选项秘钥寄存器(FLASH_OPTKEYR) FLASH 状态寄存器(FLASH_SR) FLASH 控制寄存器(FLASH_CR) FLASH 选项控制寄存器(FLASH_OPTCR) FLASH 选项控制寄存器 1(FLASH_OPTCR1) STM32F767 复位后,FLASH 编程操作是被保护的,不能写入 FLASH_CR 寄存器;通过写 入特定的序列(0X45670123 和 0XCDEF89AB)到 FLASH_KEYR 寄存器才可解除写保护,只 有在写保护被解除后,我们才能操作相关寄存器。 FLASH_CR 的解锁序列为: 1, 写 0X45670123 到 FLASH_KEYR 2, 写 0XCDEF89AB 到 FLASH_KEYR 通过这两个步骤,即可解锁 FLASH_CR,如果写入错误,那么 FLASH_CR 将被锁定,直 到下次复位后才可以再次解锁。 STM32F767 闪存的编程位数可以通过 FLASH_CR 的 PSIZE 字段配置,PSIZE 的设置必须 和电源电压匹配,见表:42.1.2: 表 42.1.2 编程/擦除并行位数与电压关系表 由于我们开发板用的电压是 3.3V,所以 PSIZE 必须设置为 10,即 32 位并行位数。擦除或 者编程,都必须以 32 位为基础进行。 STM32F767 的 FLASH 在编程的时候,也必须要求其写入地址的 FLASH 是被擦除了的(也 就是其值必须是 0XFFFFFFFF),否则无法写入。STM32F767 的标准编程步骤如下: 1,检查 FLASH_SR 中的 BSY 位,确保当前未执行任何 FLASH 操作。 2,将 FLASH_CR 寄存器中的 PG 位置 1,激活 FLASH 编程。 3,针对所需存储器地址(主存储器块或 OTP 区域内)执行数据写入操作: —并行位数为 x8 时按字节写入(PSIZE=00) —并行位数为 x16 时按半字写入(PSIZE=01) —并行位数为 x32 时按字写入(PSIZE=02) —并行位数为 x64 时按双字写入(PSIZE=03) 4,等待 BSY 位清零,完成一次编程。 按以上四步操作,就可以完成一次 FLASH 编程。不过有几点要注意:1,编程前,要确保 要写如地址的 FLASH 已经擦除。2,要先解锁(否则不能操作 FLASH_CR)。3,编程操作对 OPT 区域也有效,方法一模一样。 我们在 STM32F767 的 FLASH 编程的时候,要先判断缩写地址是否被擦除了,所以,我们 有必要再介绍一下 STM32F767 的闪存擦除,STM32F767 的闪存擦除分为两种:扇区擦除和整 片擦除。 扇区擦除步骤如下: 1,检查 FLASH_CR 的 LOCK 是否解锁,如果没有则先解锁 2,检查 FLASH_SR 寄存器中的 BSY 位,确保当前未执行任何 FLASH 操作 3,在 FLASH_CR 寄存器中,将 SER 位置 1,并从主存储块的 12 个扇区中选择要擦除的 扇区 (SNB) 4,将 FLASH_CR 寄存器中的 STRT 位置 1,触发擦除操作 5,等待 BSY 位清零 经过以上五步,就可以擦除某个扇区。本章,我们只用到了 STM32F767 的扇区擦除功能, 整片擦除功能我们在这里就不介绍了,想了解的朋友可以看《STM32F7 中文参考手册》第 3.3.6 节。 通过以上了解,我们基本上知道了 STM32F767 闪存的读写所要执行的步骤了,接下来, 我们看看与读写相关的寄存器说明。 第一个介绍的是 FLASH 访问控制寄存器:FLASH_ACR。该寄存器各位描述如图 42.1.2 所示: 图 42.1.2 FLASH_ACR 寄存器各位描述 这里,我们重点看 LATENCY[3:0]这四个位,这四个位,必须根据我们 MCU 的工作电压 和频率,来进行正确的设置,否则,可能死机,设置规则见表 42.1.2。其他 ARTEN(使能 ART 加速)和 PRFTEN(预取使能)这两个位也比较重要,为了达到最佳性能,这两个位我们一般 都设置为 1 即可。 第二个介绍的是 FLASH 秘钥寄存器:FLASH_KEYR。该寄存器各位描述如图 42.1.3 所示: 图 42.1.3 FLASH_KEYR 寄存器各位描述 该寄存器主要用来解锁 FLASH_CR,必须在该寄存器写入特定的序列(KEY1 和 KEY2) 解锁后,才能对 FLASH_CR 寄存器进行写操作。 第三个要介绍的是 FLASH 控制寄存器:FLASH_CR。该寄存器的各位描述如图 42.1.4 所 示: 图 42.1.4 FLASH_CR 寄存器各位描述 该寄存器我们本章只用到了它的 LOCK、STRT、PSIZE[1:0]、SNB[3:0]、SER 和 PG 等位。 LOCK 位,该位用于指示 FLASH_CR 寄存器是否被锁住,该位在检测到正确的解锁序列后, 硬件将其清零。在一次不成功的解锁操作后,在下次系统复位之前,该位将不再改变。 STRT 位,该位用于开始一次擦除操作。在该位写入 1 ,将执行一次擦除操作。 PSIZE[1:0]位,用于设置编程宽度,3.3V 时,我们设置 PSIZE =2 即可。 SNB[3:0]位,这 4 个位用于选择要擦除的扇区编号,取值范围为 0~15。 SER 位,该位用于选择扇区擦除操作,在扇区擦除的时候,需要将该位置 1。 PG 位,该位用于选择编程操作,在往 FLASH 写数据的时候,该位需要置 1。 FLASH_CR 的其他位,我们就不在这里介绍了,请大家参考《STM32F7 中文参考手册》 第 3.7.5 节。 最后要介绍的是 FLASH 状态寄存器:FLASH_SR。该寄存器各位描述如图 42.1.5 所示: 图 42.1.5 FLASH_SR 寄存器各位描述 该寄存器我们主要用了其 BSY 位,当该位位 1 时,表示正在执行 FLASH 操作。当该位为 0 时,表示当前未执行任何 FLASH 操作。 关于 STM32F767 FLASH 的介绍,我们就介绍到这。更详细的介绍,请参考《STM32F7 中文参考手册》第三章。下面我们讲解使用 STM32F7 的官方固件库操作 FLASH 的几个常用函 数。这些函数和定义分布在源文件 stm32f7xx_hal_flash.c/stm32f7xx_hal_flash_ex.c 以及头文件 stm32f7xx_hal_flash.h/stm32f7xx_hal_flash_ex.h 中。 1)锁定解锁函数 上面讲解到在对 FLASH 进行写操作前必须先解锁,解锁操作也就是必须在 FLASH_KEYR 寄存器写入特定的序列(KEY1 和 KEY2),HAL 库实现很简单: HAL_StatusTypeDef HAL_FLASH_Unlock(void);//解锁函数 同样的道理,在对 FLASH 写操作完成之后,我们要锁定 FLASH,使用的 HAL 库函数是: HAL_StatusTypeDef HAL_FLASH_Lock(void);//锁定函数 2)写操作函数 HAL 库提供了一个通用的 FLASH 写操作函数 HAL_FLASH_Program,该函数声明如下: HAL_StatusTypeDef HAL_FLASH_Program(uint32_t TypeProgram, uint32_t Address, uint64_t Data);//FLASH 写操作函数 该函数有三个入口参数。入口参数 TypeProgram 用来区分要写入的数据类型,取值为: FLASH_TYPEPROGRAM_BYTE(字节:8 位),FLASH_TYPEPROGRAM_HALFWORD(半 字 : 16 位 ) , FLASH_TYPEPROGRAM_WORD ( 字 : 32 位)和 FLASH_TYPEPROGRAM_DOUBLEWORD(双字:64 位),用户根据写入数据类型选择即可。 第二个入口参数 Address 用来设置要写入数据的 FLASH 地址。第三个入口参数 Data 顾名思义 就是要写入的数据类型,这个参数默认是 64 位的,如果你要写入小于 64 位的数据比如 16 位, 程序会进行类型转换。 3)擦除函数 HAL 库提供的擦除函数在 stm32f7xx_hal_flash_ex.c 中定义。和编程函数一样,HAL 提供 了一个通用的基于小区擦除的函数 HAL_FLASHEx_Erase,该函数声明如下: HAL_StatusTypeDef HAL_FLASHEx_Erase(FLASH_EraseInitTypeDef *pEraseInit, uint32_t *SectorError); 该函数有 2 个 入 口 参 数 , 这 里 我 们 主 要 看 第 一 个 入 口 参 数 pEraseInit ,它是 FLASH_EraseInitTypeDef 结构体指针类型,结构体 FLASH_EraseInitTypeDef 定义如下: typedef struct { uint32_t TypeErase; //擦除类型 #if defined (FLASH_OPTCR_nDBANK) uint32_t Banks; //擦除的 Bank 编号 #endif uint32_t Sector; //擦除的 sector 号 uint32_t NbSectors; //擦除的 sector 数量 uint32_t VoltageRange; //电压范围 } FLASH_EraseInitTypeDef; 成员变量 TypeErase 用来设置擦除类型,是 Sector 擦除还是 BANK 级别的批量擦除,取值 为 FLASH_TYPEERASE_SECTORS 或者 FLASH_TYPEERASE_MASSERASE,这个比较好理 解 , 如 果 是 一 次 擦 除 一 个 Bank 下 面 的 所 有 Sector , 那 么 需 要 选 择 FLASH_TYPEERASE_MASSERASE。成员变量 Banks 用来设置要擦除的 Bank 编号,这个只有 设置为批量擦除的时候才有效。成员变量 Sector 用来设置要擦除的 Sector 编号。成员变量 NbSectors 用来设置要擦除的 Sector 数量。成员变量 VoltageRange 用来设置电压范围,一共有 四个值可选 FLASH_VOLTAGE_RANGE_1~ FLASH_VOLTAGE_RANGE_4,分别对应表 41.1.2 的电压范围,这里我们使用的是 3.3V,所以选择 FLASH_VOLTAGE_RANGE_3 即可。 扇区擦除的实例代码如下: FlashEraseInit.TypeErase=FLASH_TYPEERASE_SECTORS; //擦除类型,扇区擦除 FlashEraseInit.Sector=3; //擦除的扇区号 FlashEraseInit.NbSectors=1; //一次只擦除一个扇区 FlashEraseInit.VoltageRange=FLASH_VOLTAGE_RANGE_3; //电压范围 2.7~3.6V HAL_FLASHEx_Erase(&FlashEraseInit,&SectorError);//进行扇区擦除操作 4)等待操作完成函数 在执行闪存写操作时,任何对闪存的读操作都会锁住总线,在写操作完成后读操作才能正 确地进行;既在进行写或擦除操作时,不能进行代码或数据的读取操作。所以在每次操作之前, 我们都要等待上一次操作完成这次操作才能开始。HAL 库函数为: HAL_StatusTypeDef FLASH_WaitForLastOperation(uint32_t Timeout); 该函数在 HAL 库中很多地方用到,比如擦除函数 HAL_FLASHEx_Erase 中在对 FLASH 进 行擦除操作后会调用该函数,等待擦除操作完成。 5)读 FLASH 特定地址数据函数 有写就必定有读,而读取 FLASH 指定地址的数据的函数固件库并没有给出来,这里我们 提供从指定地址一个读取一个字的函数: u32 STMFLASH_ReadWord(u32 faddr) { return *(vu32*)faddr; } 42.2 硬件设计 本章实验功能简介:开机的时候先显示一些提示信息,然后在主循环里面检测两个按键, 其中 1 个按键(KEY1)用来执行写入 FLASH 的操作,另外一个按键(KEY0)用来执行读出 操作,在 LCD 模块上显示相关信息。同时用 DS0 提示程序正在运行。 所要用到的硬件资源如下: 1) 指示灯 DS0 2) KEY1 和 KEY0 按键 3) LCD 模块 4) STM32F767 内部 FLASH 本章需要用到的资源和电路连接,在之前已经全部有介绍过了,接下来我们直接开始软件 设计。 42.3 软件设计 打开 FLASH 模拟 EEPROM 实验工程可以看到,工程的 HARDWARE 分组下新添加了源文 件 stm32flash.c,同时包含了对应的头文件 stm32flash.h。同时我们还引入了 HAL 库 flash 操作 源 文 件 stm32f7xx_hal_flash.c/stm32f7xx_hal_flash_ex.c 和 头 文 件 stm32f7xx_hal_flash.h/stm32f7xx_hal_flash_ex.h。 打开 stmflash.c 文件,代码如下: //读取指定地址的字(32 位数据) //faddr:读地址 //返回值:对应数据. u32 STMFLASH_ReadWord(u32 faddr) { return *(__IO uint32_t *)faddr; } //获取某个地址所在的 flash 扇区 //addr:flash 地址 //返回值:0~11,即 addr 所在的扇区 uint16_t STMFLASH_GetFlashSector(u32 addr) { if(addr } //从指定地址开始写入指定长度的数据 //特别注意:因为 STM32F7 的扇区实在太大,没办法本地保存扇区数据,所以本函数 // 写地址如果非 0XFF,那么会先擦除整个扇区且不保存扇区数据.所以 // 写非 0XFF 的地址,将导致整个扇区数据丢失.建议写之前确保扇区里 // 没有重要数据,最好是整个扇区先擦除了,然后慢慢往后写. //该函数对 OTP 区域也有效!可以用来写 OTP 区! //OTP 区域地址范围:0X1FF0F000~0X1FF0F41F //WriteAddr:起始地址(此地址必须为 4 的倍数!!) //pBuffer:数据指针 //NumToWrite:字(32 位)数(就是要写入的 32 位数据的个数.) void STMFLASH_Write(u32 WriteAddr,u32 *pBuffer,u32 NumToWrite) { FLASH_EraseInitTypeDef FlashEraseInit; HAL_StatusTypeDef FlashStatus=HAL_OK; u32 SectorError=0; u32 addrx=0; u32 endaddr=0; if(WriteAddr HAL_FLASH_Unlock(); //解锁 addrx=WriteAddr; //写入的起始地址 endaddr=WriteAddr+NumToWrite*4; //写入的结束地址 if(addrx<0X1FF00000) { while(addrx //有非 0XFFFFFFFF 的地方,要擦除这个扇区 { FlashEraseInit.TypeErase=FLASH_TYPEERASE_SECTORS; //扇区擦除 FlashEraseInit.Sector=STMFLASH_GetFlashSector(addrx);//要擦除的扇区 FlashEraseInit.NbSectors=1; //一次只擦除一个扇区 FlashEraseInit.VoltageRange=FLASH_VOLTAGE_RANGE_3; //电压范围,VCC=2.7~3.6V 之间!! if(HAL_FLASHEx_Erase(&FlashEraseInit,&SectorError)!=HAL_OK) { break;//发生错误了 } SCB_CleanInvalidateDCache();//清除无效的 D-Cache }else addrx+=4; FLASH_WaitForLastOperation(FLASH_WAITETIME); //等待上次操作完成 } } FlashStatus=FLASH_WaitForLastOperation(FLASH_WAITETIME); //等待上次操作完成 if(FlashStatus==HAL_OK) { while(WriteAddr if(HAL_FLASH_Program(FLASH_TYPEPROGRAM_WORD,WriteAddr, *pBuffer)!=HAL_OK)//写入数据 { break; //写入异常 } WriteAddr+=4; pBuffer++; } } HAL_FLASH_Lock(); //上锁 } //从指定地址开始读出指定长度的数据 //ReadAddr:起始地址 //pBuffer:数据指针 //NumToRead:字(32 位)数 void STMFLASH_Read(u32 ReadAddr,u32 *pBuffer,u32 NumToRead) { u32 i; for(i=0;i pBuffer=STMFLASH_ReadWord(ReadAddr);//读取 4 个字节. ReadAddr+=4;//偏移 4 个字节. } }该文件代码,所调用的 HAL 库函数在 41.1 小节都已经详细讲解。这里我们重点介绍一下 STMFLASH_Write 函数,该函数用于在 STM32F7 的指定地址写入指定长度的数据,该函数的 实现基本类似第 32 章的 W25QXX_Flash_Write 函数,不过该函数使用的时候,有几个要注意 要注意: 1, 写入地址必须是用户代码区以外的地址。 2, 写入地址必须是 4 的倍数。 3, 对 OTP 区域编程也有效。 第 1 点比较好理解,如果把用户代码给擦除了,可想而知你运行的程序可能就被废了,从 而很可能出现死机的情况。不过,因为 STM32F767 的扇区都比较大(最少 32K,大的 256K), 所以本函数不缓存要擦除的扇区内容,也就是如果要擦除,那么就是整个扇区擦除,所以建议 大家使用该函数的时候,写入地址定位到用户代码占用扇区以外的扇区,比较保险。 第 2 点则是 3.3V 时,设置 PSIZE=2 所决定的,每次必须写入 32 位,即 4 字节,所以地址 必须是 4 的倍数。第 3 点,该函数对 OTP 区域的操作同样有效,所以大家要写 OTP 字节,也 可以直接通过该函数写入,不过注意 OTP 是一次写入的,无法擦除,所以,一般不要写 OTP 字节。 关于 STMFLASH_GetFlashSector 函数,这个就比较好理解了,根据地址确定其 sector 编号。 其他函数我们就不做介绍了。 在 STMFLASH_Write 函数里面,我们调用了 SCB_CleanInvalidateDCache 函数,用于回写 数据到 SRAM,并重新获取 D Cache 数据,如果去掉,将导致死循环。 对 于 头 文 件 stmflash.h , 这 里 面 有 一 点 提 一 下 , 就 是 我 们 定 义 了 从 ADDR_FLASH_SECTOR_0~ ADDR_FLASH_SECTOR_19 等一系列宏定义标识符,实际上这些 标识符的值就是对应的 sector 的起始地址值,相信也比较好理解。 最后我们打开 main.c 文件,代码如下: //要写入到 STM32 FLASH 的字符串数组 const u8 TEXT_Buffer[]={"STM32 FLASH TEST"}; #define TEXT_LENTH sizeof(TEXT_Buffer) //数组长度 #define SIZE TEXT_LENTH/4+((TEXT_LENTH%4)?1:0) #define FLASH_SAVE_ADDR 0X08020000 //设置 FLASH 保存地址(必须为 4 的倍数,且所在扇区,要大于本代码所占用到的扇区. //否则,写操作的时候,可能会导致擦除整个扇区,从而引起部分程序丢失.引起死机. int main(void) { u8 key=0; u16 i=0; u8 datatemp[SIZE]; Cache_Enable(); //打开 L1-Cache HAL_Init(); //初始化 HAL 库 Stm32_Clock_Init(432,25,2,9); //设置时钟,216Mhz delay_init(216); //延时初始化 uart_init(115200); //串口初始化 LED_Init(); //初始化 LED KEY_Init(); //初始化按键 SDRAM_Init(); //初始化 SDRAM LCD_Init(); //初始化 LCD POINT_COLOR=RED; LCD_ShowString(30,50,200,16,16,"Apollo STM32F4/F7"); LCD_ShowString(30,70,200,16,16,"FLASH EEPROM TEST"); LCD_ShowString(30,90,200,16,16,"ATOM@ALIENTEK"); LCD_ShowString(30,110,200,16,16,"2016/7/14"); LCD_ShowString(30,130,200,16,16,"KEY1:Write KEY0:Read"); while(1) { key=KEY_Scan(0); if(key==KEY1_PRES) //KEY1 按下,写入 STM32 FLASH { LCD_Fill(0,170,239,319,WHITE);//清除半屏 LCD_ShowString(30,170,200,16,16,"Start Write FLASH...."); STMFLASH_Write(FLASH_SAVE_ADDR,(u32*)TEXT_Buffer,SIZE); LCD_ShowString(30,170,200,16,16,"FLASH Write Finished!");//提示传送完成 } if(key==KEY0_PRES) //KEY0 按下,读取字符串并显示 { LCD_ShowString(30,170,200,16,16,"Start Read FLASH.... "); STMFLASH_Read(FLASH_SAVE_ADDR,(u32*)datatemp,SIZE); LCD_ShowString(30,170,200,16,16,"The Data Readed Is: ");//提示传送完成 LCD_ShowString(30,190,200,16,16,datatemp);//显示读到的字符串 } i++; delay_ms(10); if(i==20) { LED0_Toggle;//提示系统正在运行 i=0; } } } 主函数代码逻辑比较简单,当检测到按键 KEY1 按下后往 FLASH 指定地址开始的连续地 址空间写入一段数据,当检测到按键 KEY0 按下后读取 FLASH 指定地址开始的连续空间数据。 至此,我们的软件设计部分就结束了。 42.4 下载验证 在代码编译成功之后,我们通过下载代码到 ALIENTEK 阿波罗 STM32 开发板上,通过先 按 KEY1 按键写入数据,然后按 KEY0 读取数据,得到如图 42.4.1 所示: 图 42.4.1 程序运行效果图 伴随 DS0 的不停闪烁,提示程序在运行。本章的测试,我们还可以借助 USMART,调用: TMFLASH_ReadWord 和 Test_Write 函数,大家可以测试下 OTP 区域的读写,注意:OTP 区域, 最后 16 字节,不要乱写!!是用于锁定 OTP 数据块的的!! 另外,OTP 的一次性可编程,也并不像字面意思那样,只能写一次。而是要理解成:只能 写 0,不能写 1。举个例子,你在地址:0X1FF0 F000,第一次写入 0X12345678。读出来,发 现是对的,和你写入的一样。而当你在这个地址,再次写入:0X12345673 的时候,再读出来, 变成了:0X12345670,不是第一次写入的值,也不是第二次写入的值,而是两次写入值相与的 值,说明第二次也发生了写操作。所以,要理解成:只能写 0,不能写 1。 |
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