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你好!我有一个项目,我需要分析代码。这个家伙使用特征过采样。问题是,这个家伙在DC上使用过采样来获得额外的精度。我曾尝试在互联网上寻找,但我所发现的是不同的来源,说它可以,其他人说不可能。我很困惑。真相是什么?这到底是不是?如果是,如何确定ADC的过采样频率?
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7个回答
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这里有一个很好的信息:http://WW1.Microchip…com……rStest%%11152A.PDF
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可以提高分辨率,但不能提高精度。
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[脾气暴躁的老人]现在似乎没有多少人能体会到精确度(或者说分辨率)和精确度之间的差别:)我责怪那些新奇的计算器东西。[/脾气暴躁的老人]
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我喜欢箭头和目标类比:更紧密的分组=更好的精度接近Bulsayy=更好的精度
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目标上的窄环=更好的解决方案,你可以让戒指像你想要的那样窄。但它不会让你成为更好的射手,甚至不会让你的模式更紧凑:
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它也强烈地依赖于模拟输入的信噪比。如果该值大于得到的ADC分辨率(即过采样和滤波后ADC的量化噪声),则精度无法提高。否则,它可以。
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我必须自己校正:如果模拟信噪比小于最终的ADC分辨率比(即经过过采样和滤波后的ADC的量化噪声),则精度无法提高。否则,实际上,处理器本身也会有很多噪音。内置的ADC永远无法达到良好外部的SMAE ENOB(无噪声位)。除了成本之外,ADCs的大多数建筑都有一个分辨率=16位的事实。
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只有小组成员才能发言,加入小组>>
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