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你好！我有一个项目，我需要分析代码。这个家伙使用特征过采样。问题是，这个家伙在DC上使用过采样来获得额外的精度。我曾尝试在互联网上寻找，但我所发现的是不同的来源，说它可以，其他人说不可能。我很困惑。真相是什么？这到底是不是？如果是，如何确定ADC的过采样频率？
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7个回答
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这里有一个很好的信息：http://WW1.Microchip…com……rStest%%11152A.PDF
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可以提高分辨率，但不能提高精度。
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[脾气暴躁的老人]现在似乎没有多少人能体会到精确度（或者说分辨率）和精确度之间的差别：）我责怪那些新奇的计算器东西。[/脾气暴躁的老人]
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我喜欢箭头和目标类比：更紧密的分组=更好的精度接近Bulsayy=更好的精度
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目标上的窄环=更好的解决方案，你可以让戒指像你想要的那样窄。但它不会让你成为更好的射手，甚至不会让你的模式更紧凑：
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它也强烈地依赖于模拟输入的信噪比。如果该值大于得到的ADC分辨率（即过采样和滤波后ADC的量化噪声），则精度无法提高。否则，它可以。
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我必须自己校正：如果模拟信噪比小于最终的ADC分辨率比（即经过过采样和滤波后的ADC的量化噪声），则精度无法提高。否则，实际上，处理器本身也会有很多噪音。内置的ADC永远无法达到良好外部的SMAE ENOB（无噪声位）。除了成本之外，ADCs的大多数建筑都有一个分辨率＝16位的事实。
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