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最近在调试锁相芯片ADF4001，问题是这样的：我计划用锁相调频，设置载波频率为34.7Mhz，参考频率REFin是用的是有源晶振24Mhz，鉴相频率设为100kHZ，调试好VCO后发现根本无法锁相，利用MUXOUT引脚检测可看到寄存器的分频设置均正常，ADF的输入频率满足要求（8脚2.5Vpp，6脚570mVpp），但CP引脚无脉冲输出，其输出的信号为一直流电平（2V），请问这可能是什么问题导致ADF4001锁定不正常？
给我的感觉就是ADF4001没有正常工作，我改变寄存器中的数据即改变R与N的分频比时，输出频率没有半点变化。 另，整个系统是利用ADIsimPLL 3.43设计出来的，LPF应该没问题。不知我是否已将问题表达清楚，如有不清楚的地方请指正，谢谢。 补充电源供电说明：VP——5V ，AVDD和DVDD为3.3V，运放为NE5532单电源15V供电。 
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4个回答
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您好！
对于有输入而没有输出；输出为宽频范围内扫频；输出为稳定单一频率，但输出频率不是想要的输出频率。上面这三种常被问到的问题是锁相环仍处于失锁状态下的现象。对于处于失锁状态下锁相环电路的调试，可从硬件和软件两方面着手。 硬件方面，应该先测量锁相环芯片供电电压是否正常。参考输入部分，可在锁相环REFin管脚使用示波器测量输入波形，确保参考输入信号正常进入REFin管脚，并应注意满足数据手册中REFin对输入频率（Input Frequency）和输入幅度（Input Sensitivity）的要求，一般参考输入除了对输入幅度有要求外，还对压摆率有要求，因此参考输入最好使用方波而不是正弦波。还应注意参考输入的方式，一般为交流耦合输入。在VCO输入，环路滤波器输出端口，可用示波器测量压控电压是否正常。对于锁相环芯片MUXOUT管脚可以帮助检测芯片状态，其中比较常用的是DLD（Digital Lock Detect），R Counter Output，N Counter Output。DLD当锁定时应为高电平。R Counter Output和N Counter Output用示波器测量应为方波脉冲，脉冲频率应为鉴相频率。 软件方面，需要注意的是寄存器写入顺序往往是要求的，需要参考数据手册中DEVICE PROGRAMMING AFTER INITIAL POWER-UP章节。可以通过示波器检测写入时隙，与数据手册中进行对比检查。最后要检查的是寄存器设置值，评估板的软件往往可以在不连接评估板硬件的情况下独立使用，因此可以通过评估板软件帮助计算寄存器控制字。但有一点需要注意，在评估板软件给出寄存器控制字后，建议将此控制字与实际设计对比检查一下。 |
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213123d 发表于 2019-3-12 15:35 好吧，对于您上面提到的这些，我已仔细核对过，我上面的叙述中有提到，可是还是找不到问题的根源。 |
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您好！ 您可以将您的原理图以图片或PDF格式上传上来，我们可以帮您看一下。 |
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谢谢，问题已经解决，是我的分频系数设的不对，将鉴相器的频率设为了100K，调制信号频率落在LPF之内了，现在我将鉴相频率设为10K已经正确。不过新问题就是他的锁定速度非常的慢。 |
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