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大家好，我想测试LSM6DS3传感器的中断而不进行任何移动。您知道是否可以通过传感器自检产生中断？
如果我编写一个低中断阈值并启动传感器的自检，是否可以看到中断？ 非常感谢你的帮助。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Hi Everybody, I want to test the interrupt of the LSM6DS3 sensor without any movement. Do you know if it is possible to generate an interrupt with the sensor self test ? If I program a low interrupt threshold and I launch the self test of the sensor, is it possible to see the interruption ? Thanks a lot for your help. 
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5个回答
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大多数MEM都有数据就绪的中断选项。运行单触发转换（无FIFO）并且中断引脚（如果配置良好）应该切换（假设所有输出配置都配置良好）
以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Most MEMs have an interrupt option for data ready. Run a one shot conversion (no FIFO) and the interrupt pin (if well configured) should toggle (assuming all is well configured for the output configuration) |
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谢谢Seb的回答。
你知道配置寄存器的组合是否允许在引脚上产生一个持续时间很长的中断来捕获中断吗？ 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Thank you Seb for your answer. Do you know if a combo with the configuration registers permit to generate an interrupt on the pin with a big duration in order to catch the interrupt ? |
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如果中断可以在脉冲或“电平直到寄存器清零”编程，请检查数据表。
将MCU连接到引脚，我们只需要一个脉冲并使用EXTI IO边沿检测器来完成工作（使用断点或LED输出进行调试） 以上来自于谷歌翻译 以下为原文 Check on the datasheet if the interrupt can be programmed at pulse or 'level until register cleared'. With MCU connected to the pin, we only need a pulse and use EXTI IO edge detector to get the job done (with breakpoint or LED output for debug) |
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可以锁存中断信号。当TAP_CFG（58h）的LIR位设置为1时，一旦中断引脚置位，必须通过读取相关的中断源寄存器来复位。
以上来自于谷歌翻译 以下为原文 There is a possibility to make the interrupt signals latched. When the LIR bit of TAP_CFG (58h) is set to 1, once the interrupt pin is asserted, it must be reset by reading the related interrupt source register. |
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