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如何知道点针与探针信号量测范围？

2019-1-18 11:15:35 1735

0 透过OM与SEM显微镜下，利用一般点针(Prober)或奈米级探针(Nano Prober)，搭接于芯片内部线路，使其可以外接各类电性量测设备，以输入信号及量测电性曲线。在真空环境下，宜特检测以点针(Prober)或奈米级探针(Nano Prober)进行电性量测，避免外界环境的噪声干扰，对于半导体组件失效分析及其在奈米尺度下之研究发展，均能提供直接且快速的信息。可依据不同需求，搭配多种设备进行量测。针对奈米组件可搭配SEM高倍率观察进行量测。量测范围：组件电性特性分析微机电及芯片微结构研究可应用在高频电路及FIB Probing PAD及Active Probe (200 MHz)。当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve Tracer等仪器却无适当治具或socket可用时，可用点针方式提供信号输入输出。 Wafer可点针进行各项测试。实验室另架设有 Laser System，可做Laser Cut。 0
2019-1-18 11:15:35　　评论淘帖0 举报相关推荐 • Linux信号量（2）：POSIX 信号量 675 • 非破坏性分析：点针与探针量测 1888 • 浅析线程的信号量和进程的信号量用法 1891 • 信号量测判断 0 • FreeRTOS信号量使用教程 3033 • 信号量是什么？信号量怎么运作 1718 • 信号量实现原理介绍 1025 • FreeRTOS信号量介绍 605 • FreeRTOS 队列信号量互斥量 0 • FreeRTOS信号量的使用与实例 2246